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发明公开
不适合检测装置以及不适合检测方法审中-实审

公开(公告)号：CN119317938A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202280096731.3

申请日：2022-06-21

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 鹈沼宗利 , 丰田康隆 , 筱田伸一 , 奥田知之 , 元吉隆广 , 小松壮太 , 石川昌义

IPC: G06T1/40

Abstract: 不适合检测部(10)具有：图像变换部(12)，其使用学习模型(14)从输入的低品质图像(11)变换为高品质等效图像(13)；不适合检测部(15)，其检测输入的低品质图像(11)与学习模型(14)是否不适合；不适合报告部(16)，其报告检测出的不适合；以及存储部，其将在学习模型(14)的学习阶段中使用的高品质正解图像(13B)的评价值的分布作为模型适合区域，与学习模型(14)对应起来进行存储，不适合检测部(15)在输入的低品质图像(11)的评价值不在模型适合区域的范围内时，判定为学习模型(14)不适合。

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