公开(公告)号：CN101529537B

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN200780040305.3

申请日：2007-10-17

Applicant: 株式会社村田制作所

Inventor： 东贵博 ,  西川善荣 ,  青木隆博 ,  后藤祥正 ,  斋藤康志 ,  平井真哉 ,  石渡祐 ,  森长哲也

IPC: H01F27/36 ,  H01F17/04

CPC classification number: H01F27/292 ,  H01F17/045 ,  H01F17/06 ,  H01F27/36 ,  H01F2017/0093

Abstract: 本发明提供一种共模扼流圈，通过将线圈的结构形成为能防止抗干扰性试验时的发送IC或接收IC的误操作的结构，谋求抗干扰性特性的改善。该共模扼流圈具有：磁芯(2)，外部电极(3-1～3-4)，一对绕组(4-1、4-2)，顶板(5)。磁芯(2)由绕芯部(20)与其两端的一对凸缘部(21、22)构成，外部电极(3-1～3-4)形成在凸缘部(21、22)的下部。而且，一对绕组(4-1、4-2)缠绕在磁芯(2)的绕芯部(20)上，其端部(4-1a、4-2a)接合在外部电极(3-1、3-2)上，并且端部(4-1b、4-2b)接合在外部电极(3-3、3-4)上。另外，顶板(5)的下表面(5b)和周围侧面(5c)被金属膜(6)覆盖，并通过粘合剂(7)接合在凸缘部(21、22)的上面。最好在粘合剂(7)中混入磁粉。

公开(公告)号：CN101529537A

公开(公告)日：2009-09-09

申请号：CN200780040305.3

申请日：2007-10-17

Applicant: 株式会社村田制作所

Inventor： 东贵博 ,  西川善荣 ,  青木隆博 ,  后藤祥正 ,  斋藤康志 ,  平井真哉 ,  石渡祐 ,  森长哲也

IPC: H01F27/36 ,  H01F17/04

CPC classification number: H01F27/292 ,  H01F17/045 ,  H01F17/06 ,  H01F27/36 ,  H01F2017/0093

Abstract: 本发明提供一种共模扼流圈，通过将线圈的结构形成为能防止抗干扰性试验时的发送IC或接收IC的误操作的结构，谋求抗干扰性特性的改善。该共模扼流圈具有：磁芯(2)，外部电极(3－1～3－4)，一对绕组(4－1、4－2)，顶板(5)。磁芯(2)由绕芯部(20)与其两端的一对凸缘部(21、22)构成，外部电极(3－1～3－4)形成在凸缘部(21、22)的下部。而且，一对绕组(4－1、4－2)缠绕在磁芯(2)的绕芯部(20)上，其端部(4－1a、4－2a)接合在外部电极(3－1、3－2)上，并且端部(4－1b、4－2b)接合在外部电极(3－3、3－4)上。另外，顶板(5)的下表面(5b)和周围侧面(5c)被金属膜(6)覆盖，并通过粘合剂(7)接合在凸缘部(21、22)的上面。最好在粘合剂(7)中混入磁粉。