公开(公告)号：CN111510573B

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202010076189.8

申请日：2020-01-23

申请人： 株式会社理光

发明人： 塚原元 ,  白土宽贵 ,  桥本步 ,  中田祐贵 ,  小野智彦 ,  尾崎达也 ,  久保宏 ,  长尾佳明 ,  柳泽公治 ,  伊藤昌弘

IPC分类号： H04N1/00 ,  H04N1/04 ,  H04N1/387

摘要： 本发明涉及的倾斜检测装置、读取装置、图像处理装置及倾斜检测方法用于提高电子偏斜校正精度。包括有第1边界检测部，其检测在背景构件成为背景的摄像位置处由摄像部拍摄到的检测对象物的图像即图像信息中的所述背景构件与所述检测对象物的阴影之间的边界；第2边界检测部，其检测所述图像信息中的所述检测对象物的阴影与所述检测对象物之间的边界，和倾斜检测部，其从由所述第1边界检测部和所述第2边界检测部分别检测出的边界，来检测所述图像信息中的所述检测对象物的倾斜。

公开(公告)号：CN111510573A

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：CN202010076189.8

申请日：2020-01-23

申请人： 株式会社理光

发明人： 塚原元 ,  白土宽贵 ,  桥本步 ,  中田祐贵 ,  小野智彦 ,  尾崎达也 ,  久保宏 ,  长尾佳明 ,  柳泽公治 ,  伊藤昌弘

IPC分类号： H04N1/00 ,  H04N1/04 ,  H04N1/387

摘要： 本发明涉及的倾斜检测装置、读取装置、图像处理装置及倾斜检测方法用于提高电子偏斜校正精度。包括有第1边界检测部，其检测在背景构件成为背景的摄像位置处由摄像部拍摄到的检测对象物的图像即图像信息中的所述背景构件与所述检测对象物的阴影之间的边界；第2边界检测部，其检测所述图像信息中的所述检测对象物的阴影与所述检测对象物之间的边界，和倾斜检测部，其从由所述第1边界检测部和所述第2边界检测部分别检测出的边界，来检测所述图像信息中的所述检测对象物的倾斜。