公开(公告)号：CN105358968A

公开(公告)日：2016-02-24

申请号：CN201480038894.1

申请日：2014-04-24

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01T1/17 ,  H05G1/08

CPC分类号： G01T1/17

摘要： 本发明的X射线检测信号处理单元(5A)包括：前置放大器(50)，其对X射线检测器(4)的输出信号进行放大；缓冲放大器(51)；同轴缆线(55)；前置放大器电源(56)，其向前置放大器(50)和缓冲放大器(51)进行供电；反馈电路(7)。同轴缆线(55)将缓冲放大器(51)的输出端和脉冲处理器(52)经由第1电容器(53)而连接于缓冲放大器侧，经由第2电容器(54)而连接于脉冲处理器侧，并且将前置放大器电源(56)和前置放大器(50)与缓冲放大器(51)连接。反馈电路(7)经由第3电容器(59)而将第1电容器(53)的同轴缆线侧端与缓冲放大器(51)的输入端连接。

公开(公告)号：CN102933982B

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201180027755.5

申请日：2011-10-26

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC分类号： G01T1/17

摘要： 本发明涉及一种X射线检测信号处理装置以及方法。本发明的X射线检测信号处理装置将前置放大器发出的信号通过高速AD转换器(1)进行高速AD转换后，在数字信号处理部(2)中通过数字化基准进行处理，该处理用于去除前置放大器中由于微分时间常数而衰减的成分所造成的影响。数字信号处理部(2)内的事件检测部(3)通过使用高速整形用滤波函数并经过规定的整形时间将高速AD转换器(1)发出的信号平滑化，将该平滑化后的信号在超过规定的阈值而为最大值的时刻作为事件信息而检测出来，与此同时，将该事件信息附加于高速AD转换器(1)发出的信号。

公开(公告)号：CN106716115B

公开(公告)日：2018-01-05

申请号：CN201580049565.1

申请日：2015-08-27

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/303 ,  G01N2223/304 ,  G01T1/17 ,  G01T1/40

摘要： 本发明的X射线分析装置同时包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)输出用于使根据在预备测定求出的计数率的总计值而推算出的靶峰的波高值，与规定的期待波高值一致的第1增益；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)通过反馈控制，实时地输出应与第1增益相加的第2增益，以便使在规定的能量范围内检测出的靶峰的波高值与期待波高值一致，此外，包括反馈控制停止机构(16A、16B)，其确实地判断相对靶峰的妨碍线的有无，在判定具有妨碍线的场合，将增益设定为仅仅由第1增益构成的一定值。

公开(公告)号：CN106716115A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201580049565.1

申请日：2015-08-27

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/303 ,  G01N2223/304 ,  G01T1/17 ,  G01T1/40

摘要： 本发明的X射线分析装置同时包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)输出用于使根据在预备测定求出的计数率的总计值而推算出的靶峰的波高值，与规定的期待波高值一致的第1增益；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)通过反馈控制，实时地输出应与第1增益相加的第2增益，以便使在规定的能量范围内检测出的靶峰的波高值与期待波高值一致，此外，包括反馈控制停止机构(16A、16B)，其确实地判断相对靶峰的妨碍线的有无，在判定具有妨碍线的场合，将增益设定为仅仅由第1增益构成的一定值。

公开(公告)号：CN106537188A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201580039683.4

申请日：2015-05-14

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01R13/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  H01J35/14 ,  H01J35/30 ,  H05G1/26

摘要： 本发明的X射线检测信号处理器(10)等包括：比较器(17)，该比较器(17)在来自具有CR电路(13a)的连续复位型的前置放大器(13)的信号的电平没有超过规定的上限值的场合，发出高电平的信号，在超过规定的上限值的场合，发出低电平的信号；控制部(18)，该控制部(18)以规定时间而使来自该比较器(17)的信号从低电平变高电平的过程延迟，将其输出给时钟振荡器(15)，停止振荡，由此，停止高速AD转换器(14)的高速AD转换，维持输出值。(15)，通过将低电平的信号输出给时钟振荡器

公开(公告)号：CN102933982A

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN201180027755.5

申请日：2011-10-26

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01T1/17 ,  G01T1/36

CPC分类号： G01T1/17

摘要： 本发明涉及一种X射线检测信号处理装置以及方法。本发明的X射线检测信号处理装置将前置放大器发出的信号通过高速AD转换器(1)进行高速AD转换后，在数字信号处理部(2)中通过数字化基准进行处理，该处理用于去除前置放大器中由于微分时间常数而衰减的成分所造成的影响。数字信号处理部(2)内的事件检测部(3)通过使用高速整形用滤波函数并经过规定的整形时间将高速AD转换器(1)发出的信号平滑化，将该平滑化后的信号在超过规定的阈值而为最大值的时刻作为事件信息而检测出来，与此同时，将该事件信息附加于高速AD转换器(1)发出的信号。

公开(公告)号：CN110088605B

公开(公告)日：2021-03-02

申请号：CN201880004182.6

申请日：2018-07-12

申请人： 株式会社理学

发明人： 多田勉 ,  迫幸雄

IPC分类号： G01N23/2252 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

摘要： 本发明提供一种X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法，能够高精度地进行时间常数的校正并使得用于进行该校正的调整工作简单且迅速。X射线分析用信号处理装置(100)的特征在于，具有差分电路(106)，使用第一时间常数将X射线检测器(102)输出的信号转换为模拟信号的差分波；AD转换器(108)，将所述模拟信号的差分波转换为数字信号的差分波；波形整形数字滤波器(116)，使用第二时间常数对所述数字信号的差分波进行整形；直方图生成部(119)，基于整形完毕的波形的至少两处区域的波峰值取得所述整形完毕的波形的特征值，生成表示每个所述特征值的取得频率的直方图。

公开(公告)号：CN110088605A

公开(公告)日：2019-08-02

申请号：CN201880004182.6

申请日：2018-07-12

申请人： 株式会社理学

发明人： 多田勉 ,  迫幸雄

IPC分类号： G01N23/2252 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36

摘要： 本发明提供一种X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法，能够高精度地进行时间常数的校正并使得用于进行该校正的调整工作简单且迅速。X射线分析用信号处理装置(100)的特征在于，具有差分电路(106)，使用第一时间常数将X射线检测器(102)输出的信号转换为模拟信号的差分波；AD转换器(108)，将所述模拟信号的差分波转换为数字信号的差分波；波形整形数字滤波器(116)，使用第二时间常数对所述数字信号的差分波进行整形；直方图生成部(119)，基于整形完毕的波形的至少两处区域的波峰值取得所述整形完毕的波形的特征值，生成表示每个所述特征值的取得频率的直方图。

公开(公告)号：CN110088603A

公开(公告)日：2019-08-02

申请号：CN201780078045.2

申请日：2017-11-21

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/207

摘要： 本发明目的在于提供一种荧光X射线分析装置，结构简单能迅速进行高精度分析。本发明荧光X射线分析装置包括X射线源(100)，向样品(103)照射1次X射线；分光元件(120)，对样品(103)产生的2次X射线分光；能量分散型检测器(110)，测量2次X射线强度；退让机构(108)，使分光元件(120)从2次X射线路径退让；扫描机构(114)，在副测量区域(124)与主测量区域(122)之间连续移动检测器(110)，副测量区域在分光元件(120)退让机构退让状态测量2次X射线，主测量区域测量分光后的2次X射线；存储装置(116)，预先存储副测量区域(124)测量出的本底强度与主测量区域(122)测量出的本底强度的比率；运算装置(118)，进行从主测量区域(122)测量强度减副测量区域(124)本底强度乘以所述比率得到的值的校正，定量分析。

公开(公告)号：CN105358968B

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201480038894.1

申请日：2014-04-24

申请人： 株式会社理学

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01T1/17 ,  H05G1/08

CPC分类号： G01T1/17

摘要： 本发明的X射线检测信号处理单元(5A)包括：前置放大器(50)，其对X射线检测器(4)的输出信号进行放大；缓冲放大器(51)；同轴缆线(50)和缓冲放大器(51)进行供电；反馈电路(7)。同轴缆线(55)将缓冲放大器(51)的输出端和脉冲处理器(52)经由第1电容器(53)而连接于缓冲放大器侧，经由第2电容器(54)而连接于脉冲处理器侧，并且将前置放大器电源(56)和前置放大器(50)与缓冲放大器(51)连接。反馈电路(7)经由第3电容器(59)而将第1电容器(53)的同轴缆线侧端与缓冲放大器(51)的输入端连接。(55)；前置放大器电源(56)，其向前置放大器