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发明公开
一种污染膜元件恢复方案的确定方法审中-实审

公开(公告)号：CN118179274A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410343623.2

申请日：2024-03-25

申请人： 核工业第八研究所

发明人： 林兴 , 周婧 , 顾跃雷 , 付怡然 , 熊泰 , 丁振杰 , 王龙

IPC分类号： B01D65/10 , B01D65/02

摘要： 本发明涉及一种污染膜元件恢复方案的确定方法，该确定方法的建立包含以下步骤：待测膜元件表观分析，取样切片，清洗试验，性能测试，依据性能测试结果，选取最优的化学清洗条件。此方法针对待测膜组件构建了完整的膜污染恢复确定体系，可为待测膜系统的清洗恢复提供有力支持。特别是在大型膜系统工程中，可提前判断膜污染特征，确定膜清洗方案，实现膜污染的高效恢复，减少膜系统的维护成本。