公开(公告)号：CN119511304A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411792699.X

申请日：2024-12-07

Applicant: 桂林理工大学

Inventor： 周国清 ,  秦国富 ,  周祥 ,  朱嘉俊

IPC: G01S17/88

Abstract: 本发明公开了一种基于高光谱飞秒激光雷达的物体表面粗糙度高速精密测量方法。该系统利用电控光滤波器对飞秒激光进行滤波，生成多种探测激光，照射到物体表面并获取反射光信号。返回的光信号通过光功率探测模块进行捕获和记录，光功率数据随后传输至现场可编程门阵列（FPGA）实时处理。FPGA利用改进版Oren‑Nayar模型计算物体表面粗糙度指数，以提高测量精度。此外，系统配备XY轴位移台，实现样品在扫描过程中的运动，获取整个表面的粗糙度信息。该技术方案实现了对物体表面粗糙度的高精度、实时高速测量，具有重要的应用价值。

公开(公告)号：CN119291706A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411463060.7

申请日：2024-10-20

Applicant: 桂林理工大学

Inventor： 周国清 ,  朱嘉俊

IPC: G01S17/10 ,  G06F17/15

Abstract: 本发明提供了一种基于FPGA的改进NAG算法的双飞秒激光测距系统数据处理方法，包括：步骤1，获取观测数据点并标定；步骤2，使用Python进行网格搜索以选择最佳学习率和学习率衰减率；步骤3，在FPGA平台上实现改进NAG算法，进行离散点拟合计算脉冲峰值时刻；步骤4，将脉冲峰值时刻代入公式得距离值。本发明采用一种改进NAG算法进行优化处理，实现硬件架构的流水线设计和多个模块的协同工作。本发明主要针对现有双飞秒激光测距系统中测距精度不高和硬件资源占用率高的问题，采用一种改进NAG算法的方法进行优化处理，可以更精确地测量脉冲峰值时刻来更好地测距，同时显著降低FPGA资源的利用率。