公开(公告)号：CN108680129A

公开(公告)日：2018-10-19

申请号：CN201810477405.2

申请日：2018-05-18

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 黄美发 ,  唐哲敏 ,  钟艳茹 ,  孙永厚 ,  黄用华 ,  陈磊磊 ,  彭志国 ,  李祖裕 ,  刘光浩

IPC: G01B21/00

CPC classification number: G01B21/00

Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种稳定、快速、形式简单的基于双重公差原则的同轴度评定方法。本发明包含以下步骤：步骤1，用待测零件的测点构造多个参数矩阵，来描述待测零件的几何误差；步骤1.1，决定分析基准段还是被测段；步骤1.2，融合基准段和被测段的参数矩阵；步骤2，加入一个关键点；步骤3，用关键点集构造分析矩阵；步骤4，对分析矩阵进行分析，决定是否继续寻优，并决定寻优策略；步骤5，计算寻优方向；步骤6，决定是否产生新的关键点，需要的话产生一个新的关键点，并更新部分参数矩阵；步骤7，计算并判断待测零件的基于双重公差原则的同轴度是否合格。

公开(公告)号：CN108592852A

公开(公告)日：2018-09-28

申请号：CN201810477597.7

申请日：2018-05-18

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 黄美发 ,  唐哲敏 ,  钟艳茹 ,  孙永厚 ,  陈磊磊 ,  彭志国 ,  李祖裕 ,  刘光浩

IPC: G01B21/24

Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种稳定、快速、形式简单的基于双重公差原则的同轴度评定方法。本发明包含以下步骤：步骤1，用待测零件的测点构造多个参数矩阵，来描述待测零件的几何误差；步骤1.1，决定分析基准段还是被测段；步骤1.2，融合基准段和被测段的参数矩阵；步骤2，加入一个关键点；步骤3，用关键点集构造分析矩阵；步骤4，对分析矩阵进行分析，决定是否继续寻优，并决定寻优策略；步骤5，计算寻优方向；步骤6，决定是否产生新的关键点，需要的话产生一个新的关键点，并更新部分参数矩阵；步骤7，计算并判断待测零件的基于双重公差原则的同轴度是否合格。