多站式钻针清洗方法及其装置

    公开(公告)号:CN113458045B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202010243572.8

    申请日:2020-03-31

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: B08B1/04 B08B1/00 B08B13/00

    摘要: 本发明多站式钻针清洗方法及其装置,其包括:一传输单元、一旋转单元、一第一清洁单元、一第二清洁单元及一第三清洁单元,该传输单元提供输送至少一装设有多个钻针的盒体;该旋转单元上设有一第一夹持模组、一第二夹持模组、一第三夹持模组及一第四夹持模组,并依序由该第一夹持模组夹持该盒体内的钻针,各钻针依序通过第一清洁单元、第二清洁单元及第三清洁单元清洁,再放回该盒体中。

    在钻刃检测装置中提升钻头传输效率的方法

    公开(公告)号:CN1967258B

    公开(公告)日:2011-06-01

    申请号:CN200510115364.5

    申请日:2005-11-16

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: G01N35/10 G01N21/84

    摘要: 本发明公开了一种在钻刃检测装置中提升钻头传输效率的方法,包含在一集结钻头的物料区与一检测区的装置中设立可往复交接传送钻头受检并且相互交接于物料区与检测区之间的一第一移钻区与一第二移钻区,在第一移钻区中设立至少一只供钻夹爪及另一只卸钻夹爪,并在第二移钻区内设置一可将钻头移载至检测区的置钻台,藉以在第二移钻区进行移钻受检的同时,令第一移钻路径上的供钻夹爪同步往返于物料区与置钻台之间夹取待测钻头,以利缩短置钻台等待钻头物料的时间,进而提升受检钻头的传送效率。

    完整检测钻头的方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1198115C

    公开(公告)日:2005-04-20

    申请号:CN02122134.0

    申请日:2002-05-31

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: G01B21/00

    摘要: 一种完整检测钻头的方法,其特征是一机台上配置有:一运钻装置摆置有待检钻头,并将钻头依序送入一校正区、一垂直检测区及一水平检测区内,校正区组设有一压钻器、一推钻器及一感测器,该压钻能将钻头下压至准位高度以下,该推钻器能将钻头上推至准位高度,该感测器能检测钻头是否位于准位高度位置,该垂直检测区内组设一垂直影象视觉器,是能够检测钻头的刀刃影象面积及偏差角度,该水平检测区内组设一水平影象视觉器及一旋钻机构,该旋钻机构能够旋转调移钻头的角度,并配合水平影象视觉器检测钻头的刀刃锥度、螺旋角度、侧刃影象面积及侧刃厚度,一电脑运算单元是分析所有检测的数据,以辨别受检钻头品质的良劣达自动检钻作业,而具实用性。

    利用钻针的耗损判断钻孔品质的方法及其系统

    公开(公告)号:CN118501134A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202310122379.2

    申请日:2023-02-15

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: G01N21/84 G01N21/01

    摘要: 本发明提供利用钻针的耗损判断钻孔品质的方法和系统,其中系统包括:一光学设备,其包括有至少一镜头,以该镜头拍摄一钻针,产生一第一相片及一第二相片,该第一相片与该第二相片包括该钻针的钻刃平面图,该第一相片及该第二相片分别为该钻针使用达到一第一预定次数的状态及一第二预定次数的状态;以及一分析装置,其包括有一记忆体及一显示器,以该分析装置接收该第一相片及该第二相片,该记忆体储存有一新钻针的钻刃面积值及一演算法,通过该演算法计算该第一相片与该第二相片中的钻刃面积,该第一相片的钻刃面积与该新钻针的钻刃面积比对,及以该第二相片的钻刃面积与该新钻针的钻刃面积比对,并将比对结果显示于该显示器。

    多站式钻针清洗方法及其装置

    公开(公告)号:CN113458045A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202010243572.8

    申请日:2020-03-31

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: B08B1/04 B08B1/00 B08B13/00

    摘要: 本发明多站式钻针清洗方法及其装置,其包括:一传输单元、一旋转单元、一第一清洁单元、一第二清洁单元及一第三清洁单元,该传输单元提供输送至少一装设有多个钻针的盒体;该旋转单元上设有一第一夹持模组、一第二夹持模组、一第三夹持模组及一第四夹持模组,并依序由该第一夹持模组夹持该盒体内的钻针,各钻针依序通过第一清洁单元、第二清洁单元及第三清洁单元清洁,再放回该盒体中。

    印刷电路板钻孔校位方法

    公开(公告)号:CN101316483B

    公开(公告)日:2011-03-23

    申请号:CN200710105886.6

    申请日:2007-06-01

    发明人: 姚志金

    IPC分类号: H05K3/00 H05K13/08

    摘要: 一种印刷电路板钻孔校位方法,包含使用一床台定位一具有至少三靶点的基板,且使用一设于床台上方的影像视觉器读取基板上的各靶点,并与影像视觉器内载的一靶点基准值进行比较,以计算取得一误差值,同时驱动床台或一设于床台上方的钻孔机依据误差值进行位移补偿;据此,以校正钻孔机与基板间的准位,并执行准位钻孔,进而提升基板的钻孔精确度。

    钻针的管理及再研磨方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114074285A

    公开(公告)日:2022-02-22

    申请号:CN202010819187.3

    申请日:2020-08-14

    发明人: 姚志金

    摘要: 一种钻针的管理及再研磨的方法,包括至少一加工机,能够输入存放具有多个微型钻针的针盒,加工机能加工钻针,并将加工完成的钻针放入针盒,再输出该针盒,同时依据加工钻针的情况编辑和输出一钻针数据,各该钻针上设有一识别器,识别器具有标识符,加工机设有一加工区检测单元,能检测各该钻针的识别器,以读取及输出该标识符,至少一针盒收容仓能输入及输出针盒,针盒收容仓设有一收容区检测单元,能检测各该钻针的识别器,以读取及输出该标识符,一控制单元能接收钻针数据和比对加工区检测单元输出的标识符与收容区检测单元输出的标识符,两标识符相同时令针盒收容仓输入针盒,不同时停止输入。

    直立式圆盘检测研磨设备

    公开(公告)号:CN110883613A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201811049730.5

    申请日:2018-09-10

    发明人: 姚志金 古明篷

    摘要: 本发明提供一种直立式圆盘检测研磨设备,其包括:一本体,该本体设有一入料位置、一影像检测位置、一抗折检测位置、一研磨位置、一出料位置及一不良位置;一入料顶针,设于该入料位置;一影像检测器,设于该影像检测位置;一抗折检测器,设于该抗折检测位置;一研磨器,设于该研磨位置;一出料顶针,设于该出料位置;一不良顶针,设于该不良位置;以及一直立式圆盘,该直立式圆盘设于该本体上,且设有至少一收容槽,该收容槽可收容微钻头,通过该直立式圆盘的转动,该收容槽会依序经由该入料位置、该影像检测位置、该抗折检测位置、该研磨位置、该出料位置、该不良位置,最后再回到该入料位置。

    钻头的自动校位研磨方法

    公开(公告)号:CN102642159B

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201110042233.4

    申请日:2011-02-22

    IPC分类号: B24B3/24

    摘要: 本发明涉及一种钻头的自动校位研磨方法,包含取用一摆动座,该摆动座摆动的弧线路径上依序规划出一校正位置、一检测位置及一研磨位置,将供料区的钻头移载至摆动座上,于校正位置接受一个第一影像检测器校正基准位置,并随摆动座摆动至研磨位置接受一研磨机研磨,再随摆动座摆动至检测位置接受一个第二影像检测器确认研磨状况;于确认钻头研磨完成时,令钻头随摆动座摆动至校正位置,并移载至供料区;于确认钻头未研磨完成时,令钻头随摆动座摆动至研磨位置接受研磨机研磨。

    柱状元件的特定端导正传送方法及其装置

    公开(公告)号:CN102476313B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201010584396.0

    申请日:2010-12-13

    发明人: 姚志金 古明篷

    IPC分类号: B23Q7/18 B23K37/00

    摘要: 本发明涉及一种柱状元件的特定端导正传送方法及其装置,包括一容置若干柱状元件的供料器,以及一设置于供料器上的排料路径,且排料路径上串接一导正器,并使用一检测器在排料路径上逐一感测所述柱状元件的一特定端位置,以确认该特定端的正确位置,在确认特定端位置正确时,令导正器导引柱状元件通过排料路径,并在确认特定端位置不正确时,令导正器以旋转方式导正柱状元件的特定端位置,随后导引柱状元件通过排料路径。本发明能够在连续供料的过程中,将特定端位置错误的柱状元件逐一导正,以避免发生供料不连续或中断的状况,进而确保连续供料的稳定性,且进一步提升供料速率及加工效率。