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公开(公告)号：CN113848041B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202111140818.X
申请日：2021-09-27
申请人： 歌尔光学科技有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开一种光学性能测试系统及测试方法，其中，光学性能测试系统，包括：照明单元、第一驱动装置、第二驱动装置以及相机，所述照明单元用于发射测试光束；所述第一驱动装置设于所述照明单元的出光侧，所述第一驱动装置的输出端设有夹持件，所述夹持件用于夹持受测元件；所述第二驱动装置设于所述第一驱动装置的一侧；所述相机设于所述第二驱动装置的输出端；其中，所述第一驱动装置用于驱动所述受测元件旋转和移动，所述第二驱动装置用于驱动所述相机旋转和移动，以使所述照明单元发出的测试光束经所述受测元件射入所述相机。本发明技术方案能够实现多视场测试，简化测试系统结构，降低设备成本，提高操作便捷性和测试准确性。
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公开(公告)号：CN113848041A
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202111140818.X
申请日：2021-09-27
申请人： 歌尔光学科技有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开一种光学性能测试系统及测试方法，其中，光学性能测试系统，包括：照明单元、第一驱动装置、第二驱动装置以及相机，所述照明单元用于发射测试光束；所述第一驱动装置设于所述照明单元的出光侧，所述第一驱动装置的输出端设有夹持件，所述夹持件用于夹持受测元件；所述第二驱动装置设于所述第一驱动装置的一侧；所述相机设于所述第二驱动装置的输出端；其中，所述第一驱动装置用于驱动所述受测元件旋转和移动，所述第二驱动装置用于驱动所述相机旋转和移动，以使所述照明单元发出的测试光束经所述受测元件射入所述相机。本发明技术方案能够实现多视场测试，简化测试系统结构，降低设备成本，提高操作便捷性和测试准确性。
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公开(公告)号：CN114485393B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202111667484.1
申请日：2021-12-30
申请人： 歌尔光学科技有限公司
IPC分类号： G01B11/00
摘要： 本公开实施例公开了一种图卡工装以及校准方法。该图卡工装包括：工装底座，在所述工装底座上设置有安装槽；图卡本体，所述图卡本体嵌设在所述安装槽内，所述图卡本体的侧边与所述安装槽的侧壁之间设置有间隙；定位结构，所述定位结构设置于所述工装底座上，所述定位结构用于与所述图卡本体进行定位；调节装置，所述调节装置围绕所述安装槽设置，用于调节所述图卡本体相对于所述定位结构的位置。通过将图卡与图卡工装结合使用，可以有效提高精度，减小定位孔加工以及使用过程中造成的误差。
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公开(公告)号：CN114624899B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202210240641.9
申请日：2022-03-10
申请人： 歌尔光学科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种光学系统校准方法、光学系统校准装置以及计算机可读存储介质。其中，该方法包括：控制第一激光器和第二激光器相向且沿同一光轴发射激光；将光学系统放置于第一激光器与第二激光器之间，并调整光学系统的位置，直至满足光学系统校准完成的预设条件；其中，预设条件包括第一入射光与第二出射光共轴且/或第二入射光与第一出射光共轴，第一入射光为第一激光器入射到光学系统的激光，第一出射光为第一入射光经过光学系统后出射的光，第二入射光为第二激光器入射到光学系统的激光，第二出射光为第二入射光经过光学系统后出射的光。本发明旨在提高光学系统光轴校准的准确性。
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公开(公告)号：CN115014724B
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210953198.X
申请日：2022-08-10
申请人： 歌尔光学科技有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本申请实施例提供了一种衍射光波导的测试系统、方法和装置。该测试系统包括：光源模组，用于将多个测试图像依次投射至所述光线耦入区；其中，多个所述测试图像对应的像素面积不同，每一个所述测试图像具有至少一个方向的标记线；视觉模组，采用同一视场获取成像图像组，并根据成像图像组中每一个成像图像的至少一个方向的标记线数量确定目标成像图像，并将目标成像图像传输至检测模组；其中，多个测试图像对应的成像图像构成成像图像组；目标成像图像为成像图像组中包含了标记线数量最多的成像图像；检测模组，根据目标成像图像中至少一个方向的一组标记线的宽度，确定衍射光波导的至少一个方向的角分辨率。
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公开(公告)号：CN114088349A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111155630.2
申请日：2021-09-29
申请人： 歌尔光学科技有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本公开实施例公开了合色棱镜的测试方法、装置及系统，应用于测试系统，该测试系统包括图像采集组件和至少一个光源组件，该方法包括：控制至少一个光源组件向待测合色棱镜发射光线；通过图像采集组件采集经待测合色棱镜后出射的光线，得到至少一个测试图像，至少一个测试图像包括分别与每一光源组件对应的测试图像；根据至少一个测试图像，确定待测合色棱镜是否合格。
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公开(公告)号：CN113852803B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202111000192.2
申请日：2021-08-30
申请人： 歌尔光学科技有限公司
摘要： 本发明公开一种鬼像测试方法、鬼像测试系统和计算机可读存储介质，鬼像测试方法包括步骤：光源向待测光学系统发出检测光线；采样相机于待测光学系统的像面采样，以获取检测图像，光功率计于待测光学系统的像面检测，以获取主光线的光功率及杂光的光功率；以及处理器获取鬼像弥散比和杂光能量比。其中，检测光线经待测光学系统传播后，能于待测光学系统的像面形成检测图像，检测图像包括主像以及鬼像，主光线和杂光分别于待测光学系统的像面形成主像和鬼像，鬼像弥散比为鬼像与主像的面积之比，杂光能量比为杂光与主光线的光功率之比。本发明技术方案旨在多维度且量化评估鬼像对于光学系统的成像质量的影响程度，以确保光学系统的成像效果。
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公开(公告)号：CN113852803A
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202111000192.2
申请日：2021-08-30
申请人： 歌尔光学科技有限公司
摘要： 本发明公开一种鬼像测试方法、鬼像测试系统和计算机可读存储介质，鬼像测试方法包括步骤：光源向待测光学系统发出检测光线；采样相机于待测光学系统的像面采样，以获取检测图像，光功率计于待测光学系统的像面检测，以获取主光线的光功率及杂光的光功率；以及处理器获取鬼像弥散比和杂光能量比。其中，检测光线经待测光学系统传播后，能于待测光学系统的像面形成检测图像，检测图像包括主像以及鬼像，主光线和杂光分别于待测光学系统的像面形成主像和鬼像，鬼像弥散比为鬼像与主像的面积之比，杂光能量比为杂光与主光线的光功率之比。本发明技术方案旨在多维度且量化评估鬼像对于光学系统的成像质量的影响程度，以确保光学系统的成像效果。
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公开(公告)号：CN114061909B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202111273430.7
申请日：2021-10-29
申请人： 歌尔光学科技有限公司
摘要： 本公开实施例公开了一种用于测试光机模组的连接装置和光机模组的测试系统，该连接装置包括：支撑组件；第一连接件，所述第一连接件设置在所述支撑组件上，所述第一连接件用于与测试设备连接，所述第一连接件包括第一连接器；第二连接件，所述第二连接件用于与光机模组连接，所述第二连接件包括第二连接器；压合组件，所述压合组件设置在所述支撑组件上，所述第二连接件可拆卸地设置于所述压合组件上，所述压合组件用于控制所述第二连接件移动，以使所述第一连接器与所述第二连接器连接。
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