-
公开(公告)号:CN108760244B
公开(公告)日:2019-11-26
申请号:CN201810344109.5
申请日:2018-04-17
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: G01M11/02
摘要: 本发明涉及光性能监测技术领域,提供了一种高分辨率光性能监测装置和方法。其中装置中光电探测器阵列5固定在可实现高精度旋转的伺服电机6上,伺服电机6的转轴与光电探测器阵列5垂直,并和光栅3分光后中心波长的光轴重合,伺服电机6绕自身转轴旋转和/或平移,能使光电探测器阵列相对于光栅3分光方向发生转动和/或平移。本发明在不显著增加尺寸和成本的前提下,利用伺服电机带动光电探测器阵列完成预设的旋转/平移动作,从而采集并存储对应某一成像的一系列的象元分布结果,并通过预设在数据处理电路中的计算程序,实现高分辨率的光性能监测。
-
公开(公告)号:CN108760244A
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201810344109.5
申请日:2018-04-17
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: G01M11/02
摘要: 本发明涉及光性能监测技术领域,提供了一种高分辨率光性能监测装置和方法。其中装置中光电探测器阵列5固定在可实现高精度旋转的伺服电机6上,伺服电机6的转轴与光电探测器阵列5垂直,并和光栅3分光后中心波长的光轴重合,伺服电机6绕自身转轴旋转和/或平移,能使光电探测器阵列相对于光栅3分光方向发生转动和/或平移。本发明在不显著增加尺寸和成本的前提下,利用伺服电机带动光电探测器阵列完成预设的旋转/平移动作,从而采集并存储对应某一成像的一系列的象元分布结果,并通过预设在数据处理电路中的计算程序,实现高分辨率的光性能监测。
-
公开(公告)号:CN106405745A
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201611145133.3
申请日:2016-12-13
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
CPC分类号: G02B6/3518 , G02B6/266
摘要: 本发明公开一种衰减可调的宽带波长可调谐滤波器,包括:光输入端口、准直透镜、衍射光栅、二维可调的MEMS反射镜及光输出端口。二维可调的MEMS反射镜可独立的绕两个正交轴转动,通过控制MEMS反射镜绕一个轴转动以改变从光输出端口输出的反射光波长,实现波长调谐;通过控制MEMS反射镜绕另一个正交轴转动改变反射光与输出端口的耦合,实现衰减可调。此外,通过一定的光学设计,譬如在光输入端口、光输出端口的光纤端面,设置光纤扩束装置,其作用是增加光纤端面处的光斑尺寸,最终增加滤波器的光学通带,可以使得本发明装置具有更大的光学带宽。本发明结构紧凑,光学元件较少,成本低,易于生产。
-
公开(公告)号:CN106330360B
公开(公告)日:2019-01-22
申请号:CN201610767395.7
申请日:2016-08-30
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: H04B17/309 , H04B10/079 , H04J14/02
摘要: 本发明公开一种光信道检测装置,包括可调光滤波装置、分光装置、控制和数据处理单元、第一光探测装置、第二光探测装置,其中:所述分光装置接收待检测的多波光信号后,一部分信号能量分离至所述第一光探测装置,另一部分信号能量经过所述可调光滤波装置输入所述第二光探测装置;通过所述第一光探测装置的测量结果对所述第二光探测装置的测量结果进行修正,进而获取光信道的相关性能参数。本发明方法根据所述装置获取的待检测信号在滤波前后的两组探测结果进行算法计算,得到信号的性能参数,可减小由滤波装置损耗标定误差带来的光性能分析偏差。
-
公开(公告)号:CN104079347B
公开(公告)日:2018-05-01
申请号:CN201310098130.9
申请日:2013-03-26
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: H04B10/079
CPC分类号: H04B10/07953 , H04J14/0227 , H04J14/06
摘要: 本发明涉及一种光信噪比测量方法,在光传输线路的待测点测量光信号的待测光谱,获取所述光信号在信道波长范围内与所述待测点不同的信噪比下的对比光谱;在所述光信号的信道波长范围内,对所述待测光谱和对比光谱分别积分得到总功率P待测光谱,P对比光谱,获取噪声指数F和信号比例因子A;根据所述总功率以及噪声指数和信号比例因子计算所述待测光谱中在所述光信号的信道波长范围内的噪声功率N待测光谱,从而计算得到待测点处的光信噪比。这种光信噪比测量方法,适用于任意速率和调制格式、单偏振或者多偏振的信号,信号无需额外加调制,测试过程对信号无任何影响,具有较高的准确度和可信度,尤其适合在40G及以上速率的光性能监测模块上实现。
-
公开(公告)号:CN106330360A
公开(公告)日:2017-01-11
申请号:CN201610767395.7
申请日:2016-08-30
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: H04B17/309 , H04B10/079 , H04J14/02
CPC分类号: H04B10/0795 , H04B17/309 , H04J14/0227
摘要: 本发明公开一种光信道检测装置,包括可调光滤波装置、分光装置、控制和数据处理单元、第一光探测装置、第二光探测装置,其中:所述分光装置接收待检测的多波光信号后,一部分信号能量分离至所述第一光探测装置,另一部分信号能量经过所述可调光滤波装置输入所述第二光探测装置;通过所述第一光探测装置的测量结果对所述第二光探测装置的测量结果进行修正,进而获取光信道的相关性能参数。本发明方法根据所述装置获取的待检测信号在滤波前后的两组探测结果进行算法计算,得到信号的性能参数,可减小由滤波装置损耗标定误差带来的光性能分析偏差。
-
公开(公告)号:CN104079347A
公开(公告)日:2014-10-01
申请号:CN201310098130.9
申请日:2013-03-26
申请人: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号: H04B10/079
CPC分类号: H04B10/07953 , H04J14/0227 , H04J14/06
摘要: 本发明涉及一种光信噪比测量方法,在光传输线路的待测点测量光信号的待测光谱,获取所述光信号在信道波长范围内与所述待测点不同的信噪比下的对比光谱;在所述光信号的信道波长范围内,对所述待测光谱和对比光谱分别积分得到总功率P待测光谱,P对比光谱,获取噪声指数F和信号比例因子A;根据所述总功率以及噪声指数和信号比例因子计算所述待测光谱中在所述光信号的信道波长范围内的噪声功率N待测光谱,从而计算得到待测点处的光信噪比。这种光信噪比测量方法,适用于任意速率和调制格式、单偏振或者多偏振的信号,信号无需额外加调制,测试过程对信号无任何影响,具有较高的准确度和可信度,尤其适合在40G及以上速率的光性能监测模块上实现。
-
-
-
-
-
-