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公开(公告)号：CN101308197B
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：CN200810047217.2
申请日：2008-04-02
Applicant: 武汉大学
IPC: G01R33/04
Abstract: 本发明公开了一种新型的磁通门传感器探头，采用圆环型磁芯，单独的激励线圈绕在磁芯上，然后将磁环置于一方形中心“井“字型镂空的骨架上的圆型凹槽中，分别在骨架的四边缠绕四个匝数相等的线圈作为感应和反馈线圈。感应线圈能够大幅度减小对磁芯上的外磁场外磁场自身闭合磁力线的抵消作用，能够感应到外部磁场一个方向在通过饱和磁芯上的绝大部分磁通量，并且反馈线圈能够产生与磁芯上外部磁场方向相近的反馈磁场，更好的抵消了外部磁场，所以本发明在测量弱磁场时具有噪声低，误差小，精度、线性度和稳定度高的优点。
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公开(公告)号：CN101308197A
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200810047217.2
申请日：2008-04-02
Applicant: 武汉大学
IPC: G01R33/04
Abstract: 本发明公开了一种新型的磁通门传感器探头，采用圆环型磁芯，单独的激励线圈绕在磁芯上，然后将磁环置于一方形中心“井”字型镂空的骨架上的圆型凹槽中，分别在骨架的四边缠绕四个匝数相等的线圈作为感应和反馈线圈。感应线圈能够大幅度减小对磁芯上的外磁场外磁场自身闭合磁力线的抵消作用，能够感应到外部磁场一个方向在通过饱和磁芯上的绝大部分磁通量，并且反馈线圈能够产生与磁芯上外部磁场方向相近的反馈磁场，更好的抵消了外部磁场，所以本发明在测量弱磁场时具有噪声低，误差小，精度、线性度和稳定度高的优点。
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公开(公告)号：CN101251584B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200810047287.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明涉及一种磁强计校正方法以及磁梯度计校正方法，尤其是涉及一种三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法。本发明在无需标准三轴线圈、标准磁场及已规格化三轴磁强计的条件下对三轴磁强计和三轴磁梯度计的非正交性、轴间耦合及灵敏度不一致所产生的误差及载体磁干扰一并进行了校正。本发明以普通的三轴线圈、标量磁强计、高精度电流源组成校正装置，其校正精度与被校正的三轴磁强计单轴的测试精度同数量级。本发明在校正过程中无需转动被校正的三轴磁强计和三轴磁梯度计，操作过程简单，校正精度高，提高了三轴磁强计和三轴磁梯度计对磁场矢量测试精度。
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公开(公告)号：CN101251584A
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN200810047287.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明涉及一种磁强计校正方法以及磁梯度计校正方法，尤其是涉及一种三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法。本发明在无需标准三轴线圈、标准磁场及已规格化三轴磁强计的条件下对三轴磁强计和三轴磁梯度计的非正交性、轴间耦合及灵敏度不一致所产生的误差及载体磁干扰一并进行了校正。本发明以普通的三轴线圈、标量磁强计、高精度电流源组成校正装置，其校正精度与被校正的三轴磁强计单轴的测试精度同数量级。本发明在校正过程中无需转动被校正的三轴磁强计和三轴磁梯度计，操作过程简单，校正精度高，提高了三轴磁强计和三轴磁梯度计对磁场矢量测试精度。
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