公开(公告)号：CN105787998B

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201610105766.5

申请日：2016-02-25

Applicant: 武汉大学

Inventor： 胡国明 ,  方自强 ,  李婉婉 ,  桂文杰 ,  刘勇

IPC: G06T17/10

Abstract: 本发明涉及一种离散元仿真中多球颗粒的两层网格搜索接触检测方法，包括以下步骤：全局空间被划分为尺寸均为D的方形或立方体网格，然后进行第一层网格搜索，如果目标颗粒的包络球与某个候选颗粒的包络球相交，则第一层网格搜索完成，反之则进行目标颗粒的包络球与其余候选颗粒的包络球之间的相交检测；相交时，一个尺寸为(D+d)的方形或立方体局部空间被划分为尺寸均为d的方形或立方体网格，并供第二层网格搜索所用，检测目标颗粒的单元球与候选颗粒的单元球之间的接触。本发明在实现接触检测的内存消耗大幅降低的同时，维持接触检测的时间消耗不增加，为多球颗粒离散元仿真在工业领域的大规模应用提供了有效的技术手段。

公开(公告)号：CN105787998A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201610105766.5

申请日：2016-02-25

Applicant: 武汉大学

Inventor： 胡国明 ,  方自强 ,  李婉婉 ,  桂文杰 ,  刘勇

IPC: G06T17/10

CPC classification number: G06T17/10 ,  G06T2200/04 ,  G06T2200/16

Abstract: 本发明涉及一种离散元仿真中多球颗粒的两层网格搜索接触检测方法，包括以下步骤：全局空间被划分为尺寸均为D的方形或立方体网格，然后进行第一层网格搜索，如果目标颗粒的包络球与某个候选颗粒的包络球相交，则第一层网格搜索完成，反之则进行目标颗粒的包络球与其余候选颗粒的包络球之间的相交检测；相交时，一个尺寸为(D+d)的方形或立方体局部空间被划分为尺寸均为d的方形或立方体网格，并供第二层网格搜索所用，检测目标颗粒的单元球与候选颗粒的单元球之间的接触。本发明在实现接触检测的内存消耗大幅降低的同时，维持接触检测的时间消耗不增加，为多球颗粒离散元仿真在工业领域的大规模应用提供了有效的技术手段。