一种IGBT剩余使用寿命预测方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114329876A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202011057287.3

    申请日:2020-09-30

    摘要: 本发明提出一种IGBT剩余使用寿命预测方法包括:步骤1:构建融合型老化评价指标V’(VCE(on),Tj)。步骤2:根据加速老化试验得到的VCE(on)和Tj老化曲线提取出融合型老化评价指标V’(VCE(on),Tj)的老化曲线,并对V’(VCE(on),Tj)数据进行预处理。步骤3:将预处理后的数据建立两段式回归模型,完成参数估计,并构建以V’(VCE(on),Tj)作为特征量的粒子滤波的观测方程和状态转移方程。步骤4:利用粒子滤波算法在状态空间中生成粒子集并预测下一周期的融合型老化评价指标值。步骤5:预测IGBT模块的剩余使用寿命。本发明考虑实际工况和IGBT模块个体差异等缺点,构建了融合VCE(on)与Tj的新型老化评价指标,解决了现有的IGBT的寿命预测方法针对单一参数的状态监测,提高了寿命预测的精度。