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公开(公告)号：CN116913197A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311187897.9
申请日：2023-09-15
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种像素定位方法、像素亮度提取方法及系统，属于图像处理领域，应用于显示面板，显示面板包括多个像素，每个像素包括至少一种颜色的子像素，方法包括：获取预设颜色的子像素被显示面板间隔点亮时的子像素亮度图；间隔点亮为相邻两个点亮的相同颜色的子像素之间存在未被点亮的相同颜色的子像素；基于子像素亮度图对点亮的子像素位置进行定位；根据显示面板的像素分布情况和已定位的子像素位置对未被点亮子像素位置进行预测，得到所有子像素的位置。本发明对子像素定位和提取子像素亮度时对子像素间隔点亮，而非全部点亮，能够减小像素间串扰，提升子像素定位精度和亮度提取精度。
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公开(公告)号：CN111598491A
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN202010707518.4
申请日：2020-07-22
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种应用于AOI检测的数据监测方法及电子设备，该方法包括：创建AOI检测过程中的待监测对象，并构建不同的待监测对象与其对应的预警条件、处理策略以及执行所述处理策略的执行对象之间的映射关系链表；采集AOI检测过程中生成的检测数据并形成数据队列，根据线体、工位、载台之间的从属关系将数据队列进行关联，形成不同层级的数据链表；从数据链表中提取检测数据进行处理，生成待监测对象；当待监测对象满足其在映射关系链表中对应的所述预警条件时，输出对应的处理策略给执行对象；本发明通过数据自动监测与智能预警，使工作人员能够快速发现异常并及时处理，及时改善制程、处理产线问题，有利于提升产线稳定性和良率。
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公开(公告)号：CN115278072B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202210875129.1
申请日：2022-07-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种用于Micro LED检测的自动对焦方法及系统。该方法包括：将待测Micro LED晶圆表面划分为若干个区域，将若干个区域依次移动到激光器测量范围内进行测距；将若干个区域依次移动到检测相机的视野范围内进行取像，并且取像前，根据测距的距离值和获取的最佳对焦距离调整各区域的对焦距离；对所述检测相机取像获得的图片进行质量评价，若某一区域对应图片的质量评价值不在预设质量范围内，则控制所述检测相机根据预先设置的清晰度评价函数调焦，直至找到最佳清晰度的焦距位置，调焦完成后控制所述检测相机对该区域再次进行取像。本发明可以在保证检测质量的前提下，缩短对焦时间，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN113643295B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111199613.9
申请日：2021-10-14
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种Micro‑LED屏幕检测方法及相关设备。该方法包括：获取相机拍摄的待测Micro‑LED屏幕的身份标识码图像，解析所述身份标识码图像得到Micro‑LED屏幕的身份标识信息；获取所述相机拍摄的待测Micro‑LED屏幕的屏幕图像，基于所述屏幕图像得到屏幕检测结果；将所述身份标识信息以及屏幕检测结果关联显示。通过本发明，对Micro‑LED屏幕进行检测时，仅需一台相机，相较于现有技术大大降低了检测成本。
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公开(公告)号：CN116913197B
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311187897.9
申请日：2023-09-15
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种像素定位方法、像素亮度提取方法及系统，属于图像处理领域，应用于显示面板，显示面板包括多个像素，每个像素包括至少一种颜色的子像素，方法包括：获取预设颜色的子像素被显示面板间隔点亮时的子像素亮度图；间隔点亮为相邻两个点亮的相同颜色的子像素之间存在未被点亮的相同颜色的子像素；基于子像素亮度图对点亮的子像素位置进行定位；根据显示面板的像素分布情况和已定位的子像素位置对未被点亮子像素位置进行预测，得到所有子像素的位置。本发明对子像素定位和提取子像素亮度时对子像素间隔点亮，而非全部点亮，能够减小像素间串扰，提升子像素定位精度和亮度(56)对比文件严利民;潘浩;杜斌;夏明治.CCD相机全彩LED显示屏亮度检测与校正算法.华中科技大学学报(自然科学版).2016,(第08期),第75-79页.
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公开(公告)号：CN114862846A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210778017.4
申请日：2022-07-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及视觉与图像处理技术领域，具体涉及一种筛分方法、装置、设备及存储介质，该筛分方法包括以下步骤：获取待检测对象的原始图像函数，所述原始图像函数表征各像素点坐标值与原始灰度值之间的映射关系，以及各像素点坐标值对应的最亮通道灰度值；根据检测对象的原始图像函数和最亮通道灰度值，确定各像素点的反射率；根据检测对象的原始图像函数、最亮通道灰度值和反射率，确定待检测对象的视觉图像函数，所述视觉图像函数表征各像素点坐标值与视觉灰度值之间的映射关系；根据检测对象的视觉图像函数，筛分被检测对象。能够解决现有技术中采用人工分拣的形式对PCB板进行筛分，会导致人工工作量大，且准确率不高的问题。
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公开(公告)号：CN113643295A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202111199613.9
申请日：2021-10-14
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明提供一种Micro‑LED屏幕检测方法及相关设备。该方法包括：获取相机拍摄的待测Micro‑LED屏幕的身份标识码图像，解析所述身份标识码图像得到Micro‑LED屏幕的身份标识信息；获取所述相机拍摄的待测Micro‑LED屏幕的屏幕图像，基于所述屏幕图像得到屏幕检测结果；将所述身份标识信息以及屏幕检测结果关联显示。通过本发明，对Micro‑LED屏幕进行检测时，仅需一台相机，相较于现有技术大大降低了检测成本。
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公开(公告)号：CN115278072A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210875129.1
申请日：2022-07-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种用于Micro LED检测的自动对焦方法及系统。该方法包括：将待测Micro LED晶圆表面划分为若干个区域，将若干个区域依次移动到激光器测量范围内进行测距；将若干个区域依次移动到检测相机的视野范围内进行取像，并且取像前，根据测距的距离值和获取的最佳对焦距离调整各区域的对焦距离；对所述检测相机取像获得的图片进行质量评价，若某一区域对应图片的质量评价值不在预设质量范围内，则控制所述检测相机根据预先设置的清晰度评价函数调焦，直至找到最佳清晰度的焦距位置，调焦完成后控制所述检测相机对该区域再次进行取像。本发明可以在保证检测质量的前提下，缩短对焦时间，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN114862846B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210778017.4
申请日：2022-07-04
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明涉及视觉与图像处理技术领域，具体涉及一种筛分方法、装置、设备及存储介质，该筛分方法包括以下步骤：获取待检测对象的原始图像函数，所述原始图像函数表征各像素点坐标值与原始灰度值之间的映射关系，以及各像素点坐标值对应的最亮通道灰度值；根据检测对象的原始图像函数和最亮通道灰度值，确定各像素点的反射率；根据检测对象的原始图像函数、最亮通道灰度值和反射率，确定待检测对象的视觉图像函数，所述视觉图像函数表征各像素点坐标值与视觉灰度值之间的映射关系；根据检测对象的视觉图像函数，筛分被检测对象。能够解决现有技术中采用人工分拣的形式对PCB板进行筛分，会导致人工工作量大，且准确率不高的问题。
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公开(公告)号：CN114549437A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210123837.X
申请日：2022-02-10
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种显示屏弱灯检测方法，包括：获取待测显示屏点亮在L0画面下的检测图像；根据所述检测图像得到所述待测显示屏上的每一个灯珠对应的当前亮度和/或色度数据；获取基准亮度和/或色度数据，并根据所述当前亮度和/或色度数据以及所述基准亮度和/或色度数据判断所述待测显示屏上的各个所述灯珠是否为弱亮灯珠；记录判断为所述弱亮灯珠的灯珠坐标以及对应的所述亮度和/或色度数据完成弱灯检测。其可以解决现有弱灯检测方法利用人眼判断弱亮区域，效率低，并且人眼判断会有较大误差的问题。
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