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公开(公告)号:CN118896971A
公开(公告)日:2024-11-05
申请号:CN202411138153.2
申请日:2024-08-19
申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号: G01N21/958 , G01N21/01
摘要: 本申请涉及一种玻璃均匀性检测系统及检测方法,玻璃均匀性检测系统包括:支撑座,支撑座具有玻璃承载面,且于玻璃承载面设有贯穿玻璃承载面的通光孔;光源和相机,光源与相机分布于玻璃承载面的相对两侧,且光源、相机与通光孔共轴线,光源发出的光穿过通光孔照射至相机。本申请通过设置光源和相机,光源可以在玻璃承载面上待测玻璃的一侧发出光线,光线穿过通光孔和待测玻璃在相机中接收成像,相机拍摄待测玻璃获得的图像能够直接反应待测玻璃的均匀性,无需使用到昂贵的设备或者复杂的算法,能够大大降低成本,提高检测效率,解决了相关技术中需要昂贵的设备或臃肿的光学系统配合复杂的算法对封装玻璃进行检测和筛选,成本较高的技术问题。