公开(公告)号：CN103679008B

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：CN201210319578.4

申请日：2012-09-03

申请人： 江苏东大集成电路系统工程技术有限公司

发明人： 蔡志匡 ,  单伟伟 ,  刘君寅 ,  朱佳梁 ,  邵金梓 ,  黄丹丹

IPC分类号： G06F21/55

摘要： 发明公开了一种高效的安全芯片功耗攻击测试方法，对安全芯片在设计阶段进行功耗攻击测试时，对功耗样本的获取及处理如下：(1)功耗样本获取(2)功耗样本预处理(3)假设功耗样本获取(4)相关系数的计算和攻击结果分析。本发明仅采样有变化的功耗点，节省大量功耗样本数据，大幅降低功耗攻击计算量，具有评估效率高、速度快的优点，更重要的是，能够在芯片设计阶段进行功耗攻击测试，降低流片后安全性能不佳导致芯片重新设计的风险，从而缩短安全芯片设计周期。

公开(公告)号：CN103679008A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201210319578.4

申请日：2012-09-03

申请人： 江苏东大集成电路系统工程技术有限公司

发明人： 蔡志匡 ,  单伟伟 ,  刘君寅 ,  朱佳梁 ,  邵金梓 ,  黄丹丹

IPC分类号： G06F21/55

CPC分类号： G06F21/57 ,  G06F17/5045

摘要： 发明公开了一种高效的安全芯片功耗攻击测试方法，对安全芯片在设计阶段进行功耗攻击测试时，对功耗样本的获取及处理如下：(1)功耗样本获取(2)功耗样本预处理(3)假设功耗样本获取(4)相关系数的计算和攻击结果分析。本发明仅采样有变化的功耗点，节省大量功耗样本数据，大幅降低功耗攻击计算量，具有评估效率高、速度快的优点，更重要的是，能够在芯片设计阶段进行功耗攻击测试，降低流片后安全性能不佳导致芯片重新设计的风险，从而缩短安全芯片设计周期。