一种用于仪控机柜的晶须检测装置

    公开(公告)号:CN108732170A

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201711160254.X

    申请日:2017-11-20

    IPC分类号: G01N21/84

    摘要: 本发明属于DCS系统机柜晶须检测技术领域,具体涉及一种用于仪控机柜的晶须检测装置。包括:高倍电子显微镜、低倍电子显微镜、电路板固定台架、显微镜滑轨装置、电缆接口、传输电缆和上位机;电路板固定台架包括:台面、立柱、电路板夹和导轨B;显微镜滑轨装置包括:导轨A、滑动横杆、滑动吊杆、移动旋钮A、移动旋钮B和移动旋钮C。本发明设计的检测装置,可以检测各种尺寸的电路板晶须情况,可以实现对电路板的可靠固定,解决了以往需要手动移动电路板导致电路板晶须被破坏的问题,尽量保证电路板的现状,提高了检测装置的可靠性和准确性。