一种实现紧耦合阵列H面宽角扫描的双FSS结构

    公开(公告)号:CN117039450A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202311158419.5

    申请日:2023-09-08

    摘要: 一种实现紧耦合阵列H面宽角扫描的双FSS结构,包括多个周期性排布的天线单元,每个天线单元包括地板,地板上设有馈电单元,馈电单元上印刷有偶极子辐射单元和双面延长线,上层频率选择表面水平放置于偶极子辐射单元上方,下层频率选择表面位于偶极子辐射单元下方及地板上方,地板与上层频率选择表面和下层频率选择表面平行并且位于天线单元最下方;本发明利用大角度扫描时的阻抗共轭匹配方法,分析单极化天线阵列在大角度扫描时天线端口的Floquent阻抗变化规律,将两层FSS结构分别加载在天线阵面顶部及偶极子辐射单元与地板之间,能显著的改善阵列的H面扫描特性,其大角度扫描时Floquent阻抗变化规律与天线相反,从而实现共轭匹配,改善宽频宽角有源驻波特性。