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公开(公告)号：CN116154086B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310443990.5
申请日：2023-04-24
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： H01L33/56 , H01L25/075 , H05K1/18
摘要： 本公开提供一种mini‑LED显示模组的制造方法。本申请涉及mini‑LED技术领域。其中，mini‑LED显示模组的制造方法，包括：在PCB基板上的多个mini‑LED芯片的顶部设置顶部遮挡层；在相邻两个mini‑LED芯片之间的间隙填充有掺有碳粉的树脂；待掺有碳粉的树脂固化形成填充层，将mini‑LED芯片顶部的遮挡层去除；将多个mini‑LED芯片进行封装。从而本申请提供的mini‑LED显示模组的制造方法，既可以保护mini‑LED芯片不受掺有碳粉的树脂遮挡，又能保证掺有碳粉的树脂填充整个芯片间隙。
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公开(公告)号：CN113213769B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202110414307.6
申请日：2021-04-16
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭光电科技股份有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： C03C15/00
摘要： 本公开涉及一种刻蚀减薄系统，该刻蚀系统包括刻蚀装置和管路输送组件，所述刻蚀装置包括具有容纳腔的壳体，所述容纳腔内设置有用于直立固定玻璃的固定结构，所述壳体设置有用于持续向所述容纳腔供送刻蚀液的刻蚀液进口，所述壳体的顶部设置有刻蚀液出口。将需要减薄的玻璃放入刻蚀装置的容纳腔内，并通过固定结构将玻璃以直立的状态固定，充满容纳腔的刻蚀液能够与玻璃表面完全均匀地接触，解决了玻璃表面局部刻蚀不一致的问题。侵蚀反应中产生的颗粒物或沉淀物不容易沾附在处于直立状态的玻璃表面上，而且从玻璃表面不断流过的刻蚀液能够冲刷并带走侵蚀反应产生的沉积物及颗粒物。
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公开(公告)号：CN113790954B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202110959489.5
申请日：2021-08-20
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
摘要： 本申请实施例提供一种薄玻璃弹性模量测试方法及装置。方法包括：确定薄玻璃样品的样品数据；对样品设置夹持线，其中夹持线至少包括第一夹持线和第二夹持线，在第一夹持线的一侧设置信号接收处，在第二夹持线与样品的接触区域设置激励处；获取第二夹持线的激励信号，激励信号是根据激励处在第二夹持线上选取一个挑起点，利用预设工具在挑起点上将第二夹持线挑起预设高度后引起样品振动产生的；根据激励信号确定第二夹持线的激振频率；根据样品数据和激振频率确定样品的杨氏模量、剪切模量以及泊松比。当选取的玻璃样品厚度越来越小，样品质量相应地变轻，两端采用夹持线夹持样品不易松动，所获取的激振信号重复性高，测试的精度更高。
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公开(公告)号：CN113776992B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202110992292.1
申请日：2021-08-27
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： G01N13/02
摘要： 本发明公开了一种测试熔体表面张力的方法，包括：将样品加热为熔体，并使得所述熔体形成熔滴；获取所述熔滴的图像；以及对所述图像进行处理，计算熔体的表面张力；其中所述加热包括：将样品在第一温度加热第一预定时间，然后将加热温度从所述第一温度降至第二温度，并在所述第二温度保温第二预定时间。本发明能够提高熔体表面张力测试的准确性。
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公开(公告)号：CN116154086A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202310443990.5
申请日：2023-04-24
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： H01L33/56 , H01L25/075 , H05K1/18
摘要： 本公开提供一种mini‑LED显示模组的制造方法。本申请涉及mini‑LED技术领域。其中，mini‑LED显示模组的制造方法，包括：在PCB基板上的多个mini‑LED芯片的顶部设置顶部遮挡层；在相邻两个mini‑LED芯片之间的间隙填充有掺有碳粉的树脂；待掺有碳粉的树脂固化形成填充层，将mini‑LED芯片顶部的遮挡层去除；将多个mini‑LED芯片进行封装。从而本申请提供的mini‑LED显示模组的制造方法，既可以保护mini‑LED芯片不受掺有碳粉的树脂遮挡，又能保证掺有碳粉的树脂填充整个芯片间隙。
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公开(公告)号：CN113837544A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202110973143.0
申请日：2021-08-24
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
摘要： 本申请实施例提供一种基板玻璃生产质量管控装置、方法及处理器，装置包括：数据采集模块，被配置成采集基板玻璃半成品的质量数据；质量监控模块，被配置成从数据采集模块接收质量数据，并对质量数据进行监控；以及质量追溯模块，被配置成从质量监控模块接收异常参数，并获取异常参数对应的基板玻璃标识，根据基板玻璃标识建立对应的基板玻璃质量档案，使得用户通过基板玻璃标识追溯基板玻璃的生产信息。通过对基板玻璃半成品质量管理实现全自动化过程控制，减少人为干预产生的失误和错误判定，提高生产效率。同时，还可以追溯产品生产过程中的所有关键信息，实现质量数据的完整管控，便于质量改进，提升基板玻璃半成品的品质。
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公开(公告)号：CN113790954A
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN202110959489.5
申请日：2021-08-20
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
摘要： 本申请实施例提供一种薄玻璃弹性模量测试方法及装置。方法包括：确定薄玻璃样品的样品数据；对样品设置夹持线，其中夹持线至少包括第一夹持线和第二夹持线，在第一夹持线的一侧设置信号接收处，在第二夹持线与样品的接触区域设置激励处；获取第二夹持线的激励信号，激励信号是根据激励处在第二夹持线上选取一个挑起点，利用预设工具在挑起点上将第二夹持线挑起预设高度后引起样品振动产生的；根据激励信号确定第二夹持线的激振频率；根据样品数据和激振频率确定样品的杨氏模量、剪切模量以及泊松比。当选取的玻璃样品厚度越来越小，样品质量相应地变轻，两端采用夹持线夹持样品不易松动，所获取的激振信号重复性高，测试的精度更高。
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公开(公告)号：CN113654471A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110893375.5
申请日：2021-08-04
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明提供一种玻璃管厚度测量方法及装置。所述玻璃管厚度测量方法包括以下步骤：将激光位移传感器固定于激光发射位置；在测量位置无玻璃管的情况下，获得激光位移传感器发出的激光从所述激光发射位置到所述测量位置的直射光程；将玻璃管定位于所述测量位置，获得激光位移传感器发出的激光从激光发射位置穿过所述玻璃管到所述测量位置的折射光程；结合所述直射光程和所述折射光程得到玻璃管的厚度。通过本发明的技术方案，基于两次光程的测量和对比，可实现玻璃管厚度的非接触式的测量，在满足连续生产要求的实时性时可保证玻璃管厚度的测量精确性，达到不影响产品品质和在线生产的目的。
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公开(公告)号：CN112557435A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011444108.1
申请日：2020-12-08
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭光电科技股份有限公司 , 芜湖东旭光电装备技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
摘要： 本公开涉及热收缩检测技术领域，具体地，涉及一种玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备，所述系统包括：待测玻璃，衍射装置，以及与所述衍射装置连接的处理器，所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅，所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃；所述衍射装置，用于对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射，并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像；所述处理器，用于根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
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公开(公告)号：CN113837544B
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202110973143.0
申请日：2021-08-24
申请人： 河北光兴半导体技术有限公司 , 东旭科技集团有限公司
IPC分类号： G06Q10/0639 , G06Q50/04
摘要： 本申请实施例提供一种基板玻璃生产质量管控装置、方法及处理器，装置包括：数据采集模块，被配置成采集基板玻璃半成品的质量数据；质量监控模块，被配置成从数据采集模块接收质量数据，并对质量数据进行监控；以及质量追溯模块，被配置成从质量监控模块接收异常参数，并获取异常参数对应的基板玻璃标识，根据基板玻璃标识建立对应的基板玻璃质量档案，使得用户通过基板玻璃标识追溯基板玻璃的生产信息。通过对基板玻璃半成品质量管理实现全自动化过程控制，减少人为干预产生的失误和错误判定，提高生产效率。同时，还可以追溯产品生产过程中的所有关键信息，实现质量数据的完整管控，便于质量改进，提升基板玻璃半成品的品质。
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