公开(公告)号：CN106353665B

公开(公告)日：2019-12-06

申请号：CN201610766948.7

申请日：2016-08-29

申请人： 河北工业大学

发明人： 姚芳 ,  王少杰 ,  陈盛华 ,  李志刚

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明为一种IGBT瞬态热特性测试装置，其组成包括恒流源2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7，其中，各部分各自独立；测试时IGBT测试模块1分别与试验电流产生电路2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7相连。本发明的IGBT瞬态热特性测试装置，能够对IGBT模块工作过程中的内部发热芯片结温、铜底板壳温、集电极电流、集射极电压同时且自动采集，进而能够对IGBT模块的瞬态热特性曲线进行提取；并且能够通过研究老化过程中的瞬态热特性曲线对IGBT的老化状态进行评估。

公开(公告)号：CN106353665A

公开(公告)日：2017-01-25

申请号：CN201610766948.7

申请日：2016-08-29

申请人： 河北工业大学

发明人： 姚芳 ,  王少杰 ,  陈盛华 ,  李志刚

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明为一种IGBT瞬态热特性测试装置，其组成包括恒流源2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7，其中，各部分各自独立；测试时IGBT测试模块1分别与试验电流产生电路2、第一温度采集存储系统3、第二温度采集存储系统4、电气参量采集存储系统5、IGBT驱动电路6、散热器7相连。本发明的IGBT瞬态热特性测试装置，能够对IGBT模块工作过程中的内部发热芯片结温、铜底板壳温、集电极电流、集射极电压同时且自动采集，进而能够对IGBT模块的瞬态热特性曲线进行提取；并且能够通过研究老化过程中的瞬态热特性曲线对IGBT的老化状态进行评估。