一种半值层自动测量设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117722993A

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202311587579.1

    申请日:2023-11-27

    IPC分类号: G01B15/02

    摘要: 本发明涉及一种半值层自动测量设备,本发明有效解决了现有半值层测量过程中操作较为不便且测量精度低的问题;解决的技术方案包括:测量架上同轴心间隔设有第一环、第二环、第三环且第一环、第二环、第三环之与测量架转动安装,第一环、第二环、第三环的圆周壁上等距间隔设有若干安放孔且安放孔内设有限位组件,第一环、第二环、第三环分别连接有驱动组件,第一环中心位置设有探测器;在进行半值层测量过程中,无需工作人员更换(调整)铝片,整个过程只需控制相应的环进行转动,即可快速测出X射线源的半值层参数,而且还可实现对处于最外侧的铝片进行一定程度的清理,以免堆积于铝片表面的浮灰影响测量精度。