一种基于空间分布的多探头天线测试设备及方法

    公开(公告)号:CN112305322A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201910695553.6

    申请日:2019-07-30

    IPC分类号: G01R29/08 G01R29/10

    摘要: 本发明公开了一种基于空间分布的多探头天线测试设备及方法,该测试设备包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头,所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室,所述控制台控制待测物转台旋转,所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接,所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角,所述待测物转台设置在所述环形支架的底部,所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心,所述第一探头设置在所述环形支架上,所述第二探头设置在所述半环支架上。本发明以空间分布多探头的方式,大大提高了空间角度分辨率,实现从空间上将探头的距离扩大实现低耦。

    一种基于多探头波束合成技术的测量设备及方法

    公开(公告)号:CN112305331A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201910695520.1

    申请日:2019-07-30

    发明人: 韩栋 梁家军

    IPC分类号: G01R31/00 G01R29/08 G01R1/18

    摘要: 本发明公开了一种基于多探头波束合成技术的测量设备及方法,该基于多探头波束合成技术的测量方法,应用于基于多探头波束合成技术的测量设备,所述测量设备包括电波暗室、控制台、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头,包括:通过所述电波暗室吸收电磁波和隔绝外部干扰电磁场;通过所述控制台控制所述波束合成网络的调整,控制所述待测物转台旋转;通过所述待测物转台带动待测物体旋转;通过所述波束合成网络为至少两个所述实际探头提供信号激励,生成至少一个等效探头。本发明使用较少的探头,探头间间距大,耦合效应不明显,测试结果精度,结构简单,效率高。

    一种基于空间分布的多探头天线测试设备

    公开(公告)号:CN210894512U

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201921214757.5

    申请日:2019-07-30

    IPC分类号: G01R29/08 G01R29/10

    摘要: 本实用新型公开了一种基于空间分布的多探头天线测试设备,包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头,所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室,所述控制台控制待测物转台旋转,所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接,所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角,所述待测物转台设置在所述环形支架的底部,所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心,所述第一探头设置在所述环形支架上,所述第二探头设置在所述半环支架上。本实用新型以空间分布多探头的方式,大大提高了空间角度分辨率,实现从空间上将探头的距离扩大实现低耦。

    一种基于多探头波束合成技术的测量设备

    公开(公告)号:CN210894526U

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201921214738.2

    申请日:2019-07-30

    发明人: 韩栋 梁家军

    IPC分类号: G01R31/00 G01R29/08 G01R1/18

    摘要: 本实用新型公开了一种基于多探头波束合成技术的测量设备,该基于多探头波束合成技术的测量方法,应用于基于多探头波束合成技术的测量设备,所述测量设备包括电波暗室、控制台、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头,包括:通过所述电波暗室吸收电磁波和隔绝外部干扰电磁场;通过所述控制台控制所述波束合成网络的调整,控制所述待测物转台旋转;通过所述待测物转台带动待测物体旋转;通过所述波束合成网络为至少两个所述实际探头提供信号激励,生成至少一个等效探头。本实用新型使用较少的探头,探头间间距大,耦合效应不明显,测试结果精度,结构简单,效率高。

    多探头天线测量设备
    5.
    外观设计

    公开(公告)号:CN305758733S

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201930424178.2

    申请日:2019-08-06

    摘要: 1.本外观设计产品的名称:多探头天线测量设备。
    2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于进行天线测量和OTA测量。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。