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公开(公告)号：CN102879418B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201210372785.6
申请日：2012-09-29
申请人： 济南大学
IPC分类号： G01N25/16
摘要： 本发明涉及一种用于材料线膨胀系数的测量方法。在常温下通过光栅刻制手段在待测金属表面刻划出光栅条纹、采集物光栅数字图像、制作参考光栅以及采集膨胀后的物光栅数字图像，之后通过将参考光栅与物光栅的数字图像相互叠加得到莫尔条纹一，将参考光栅与膨胀后的物光栅的数字图像相互叠加莫尔条纹二，再通过傅里叶变换、滤波处理以及极值法进行细化处理得到相应的细化后的等差条纹一和由等差条纹二形成的细化后的等差条纹二。再通过最小二乘法法分别计算出各自的等差条纹的斜率和倾角，之后得到相应温度变化引起的等差条纹倾角相对于测量系统X轴的该变量 计算定标后的斜率再计算出温度为T2时的应变量，最后即可计算出材料的膨胀系数。
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公开(公告)号：CN115509023A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211318037.X
申请日：2022-10-26
申请人： 济南大学
摘要： 本发明属于偏振门成像技术领域，提出了一种去相干偏振门成像装置及方法，包括沿光路方向依次设置的起偏器、检偏器以及弱散射介质；本发明中，在采用单光束成像光路的基础上，在检偏器后引入弱散射介质，增加了透射光的出射角度以及透射光的偏振方向，进而降低了透射光的相干性，克服了传统偏振门成像装置中，泄露散射光子在成像面形成的散斑的部分影响，抑制了成像中的散斑，成像对比度更高，系统分辨率也更高；在混浊介质内部目标物体成像时，无需引入更多的光学器件，即可保证成像质量，这保证了门选通结构的简洁性，有助于该门结构的推广与应用。
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公开(公告)号：CN115509023B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202211318037.X
申请日：2022-10-26
申请人： 济南大学
摘要： 本发明属于偏振门成像技术领域，提出了一种去相干偏振门成像装置及方法，包括沿光路方向依次设置的起偏器、检偏器以及弱散射介质；本发明中，在采用单光束成像光路的基础上，在检偏器后引入弱散射介质，增加了透射光的出射角度以及透射光的偏振方向，进而降低了透射光的相干性，克服了传统偏振门成像装置中，泄露散射光子在成像面形成的散斑的部分影响，抑制了成像中的散斑，成像对比度更高，系统分辨率也更高；在混浊介质内部目标物体成像时，无需引入更多的光学器件，即可保证成像质量，这保证了门选通结构的简洁性，有助于该门结构的推广与应用。
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公开(公告)号：CN102879418A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210372785.6
申请日：2012-09-29
申请人： 济南大学
IPC分类号： G01N25/16
摘要： 本发明涉及一种用于材料线膨胀系数的测量方法。在常温下通过光栅刻制手段在待测金属表面刻划出光栅条纹、采集物光栅数字图像、制作参考光栅以及采集膨胀后的物光栅数字图像，之后通过将参考光栅与物光栅的数字图像相互叠加叠加得到莫尔条纹一，将参考光栅与膨胀后的物光栅的数字图像相互叠加莫尔条纹二，再通过傅里叶变换、滤波处理以及极值法进行细化处理得到相应的细化后的等差条纹一和由等差条纹二形成的细化后的等差条纹二。再通过最小二乘法法分别计算出各自的等差条纹的斜率和倾角，之后得到相应温度变化引起的等差条纹倾角相对于测量系统X轴的该变量计算定标后的斜率再计算出温度为T2时的应变量，最后即可计算出材料的膨胀系数。
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公开(公告)号：CN203249687U
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201320301808.4
申请日：2013-05-29
申请人： 济南大学
IPC分类号： G01H17/00
摘要： 本实用新型公开了一种精确测量超声波衰减系数的装置，包括支架、信号发生器和示波器，其特征是：所述支架的两端设置有相同的超声换能器一和能够沿所述支架自由移动的超声换能器二，所述支架上设置有限位器，所述支架、超声换能器一和超声换能器二的外侧为有机玻璃箱，所述超声换能器一连接所述信号发生器，所述超声换能器二连接所述示波器。本实用新型在不改变常用仪器的构造前提下增加了吸音棉层与限位器，吸收了反射波以及超声换能器的形状尺寸给测量带来的误差，提高了测量的准确程度，且成本低，测量结果相对于原有结果精确。
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