公开(公告)号：CN109916928B

公开(公告)日：2020-11-17

申请号：CN201910197202.2

申请日：2019-03-15

申请人： 浙江大学

发明人： 陈芳 ,  丁晓坤 ,  裘雅渔 ,  姜茂蔚

IPC分类号： G01N23/04 ,  G01N23/207

摘要： 本发明涉及材料产品电镜测试技术领域，公开了一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，包括：(1)通过透射电子显微镜获得纳米晶体形貌图片，确定其不同晶体取向的三维形貌信息；(2)获取不同晶体取向的纳米晶体的高分辨透射电子显微镜图片，确定不同晶体取向的晶体结构信息；(3)获得各个晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的电子衍射信息，建立电子衍射信息与优势晶面排列信息间的对应关系；(4)通过电子衍射分析获得待测纳米晶体组装体的电子衍射信息，依据该电子衍射信息判断该待测纳米晶体组装体的优势晶体取向，从而判断其纳米晶体择优取向性组装结果。本发明的方法可利用透射电子显微镜快速地判断组装方向及组装趋势。

公开(公告)号：CN109916928A

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：CN201910197202.2

申请日：2019-03-15

申请人： 浙江大学

发明人： 陈芳 ,  丁晓坤 ,  裘雅渔 ,  姜茂蔚

IPC分类号： G01N23/04 ,  G01N23/207

摘要： 本发明涉及材料产品电镜测试技术领域，公开了一种判断各向异性纳米晶体择优取向性组装结果的方法，包括：(1)通过透射电子显微镜获得纳米晶体形貌图片，确定其不同晶体取向的三维形貌信息；(2)获取不同晶体取向的纳米晶体的高分辨透射电子显微镜图片，确定不同晶体取向的晶体结构信息；(3)获得各个晶体取向重复排列的纳米晶体组装体的电子衍射信息，建立电子衍射信息与优势晶面排列信息间的对应关系；(4)通过电子衍射分析获得待测纳米晶体组装体的电子衍射信息，依据该电子衍射信息判断该待测纳米晶体组装体的优势晶体取向，从而判断其纳米晶体择优取向性组装结果。本发明的方法可利用透射电子显微镜快速地判断组装方向及组装趋势。