公开(公告)号：CN105637345B

公开(公告)日：2018-06-12

申请号：CN201480036523.X

申请日：2014-05-20

申请人： 海因兹仪器公司

发明人： 约翰·弗罗伊登塔尔 ,  安迪·利德贝特 ,  王宝良

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01N21/23 ,  G01J4/04

CPC分类号： G01N21/23 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N2201/0621 ,  G01N2201/0683

摘要： 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。

公开(公告)号：CN105637345A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201480036523.X

申请日：2014-05-20

申请人： 海因兹仪器公司

发明人： 约翰·弗罗伊登塔尔 ,  安迪·利德贝特 ,  王宝良

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01N21/23 ,  G01J4/04

CPC分类号： G01N21/23 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N2201/0621 ,  G01N2201/0683

摘要： 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。