一种针对VSC高频段阻抗特性的分析方法及装置

    公开(公告)号:CN116226603A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310223410.1

    申请日:2023-02-28

    IPC分类号: G06F17/18 G01R27/08

    摘要: 本发明提供一种针对VSC高频段阻抗特性的分析方法及装置,包括,采集目标VSC的扰动电压和扰动电流,并分别确定采样电压和采样电流;确定PWM边带多种频率分量对应PWM调制信号;确定各频率之间的频率耦合系数;根据所述频率耦合系数确定频率分量对应的VSC端口电压;当VSC端口采样滤波器时,确定当次的VSC端口电流;判断当次的VSC端口电流的幅值和相位值与前次的VSC端口电流的幅值和相位值之间的差值是否满足预设的误差允许值;若不满足,则重新确定下次的VSC端口电流;若满足,则根据当次的VSC端口电流和对应的所述扰动电压计算得到VSC输入阻抗。本发明考虑采样和PWM边带效应频耦合效应对VSC阻抗特性的影响,提高奈奎斯特频率以上的VSC高频段阻抗特性的分析精度。