一种闪烁光纤性能测试系统及方法

    公开(公告)号:CN119413415A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202510031414.9

    申请日:2025-01-09

    Abstract: 本申请公开了一种闪烁光纤性能测试系统及方法,涉及光学元件测试领域。闪烁光纤性能测试系统包括绝对增益测试模块、SiPM测试模块、衰减时间测试模块以及计算机;其中绝对增益测试模块包括脉冲发生器、激光发射器、滤光片、准直器、SiPM、前级放大器、后级放大器、符合电路以及QDC;SiPM测试模块包括放射源、准直器、闪烁光纤、SiPM、前级放大器、后级放大器、恒比定时器、符合电路以及QDC;衰减时间测试模块包括放射源、准直器、闪烁光纤、SiPM、前级放大器以及示波器。基于闪烁光纤性能测试系统能够测试闪烁光纤的衰减长度、弯曲损耗、光产额以及衰减时间,并提高测试效率及准确性。

    半导体微结构沟槽中填充中子转化材料的方法和装置

    公开(公告)号:CN119451286A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202510031883.0

    申请日:2025-01-09

    Abstract: 本发明提供了半导体微结构沟槽中填充中子转化材料的方法和装置,属于半导体技术领域。本发明采用湿法离心的冷态技术路线,在不加热半导体的前提下,利用离心的方式将胶体中的氟化锂微粒填充到微结构中。在离心力的作用下,微结构中的氟化锂填充致密且完全,达到MSND芯片的工艺要求。在本发明中,含有微结构沟槽的半导体(3)通过静电自粘薄膜(2)固定于半导体装载器(1)表面,由于半导体(3)本身密度较低,且体积较小,能避免因溶液流动造成的翻滚或位移;半导体装载器(1)设有限位卡口(12),通过限位卡口(12)与支撑架(4)的立柱(41)配合安装,可实现固定半导体装载器(1),避免半导体装载器(1)发生旋转或翻滚。

    一种闪烁光纤性能测试系统及方法

    公开(公告)号:CN119413415B

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510031414.9

    申请日:2025-01-09

    Abstract: 本申请公开了一种闪烁光纤性能测试系统及方法,涉及光学元件测试领域。闪烁光纤性能测试系统包括绝对增益测试模块、SiPM测试模块、衰减时间测试模块以及计算机;其中绝对增益测试模块包括脉冲发生器、激光发射器、滤光片、准直器、SiPM、前级放大器、后级放大器、符合电路以及QDC;SiPM测试模块包括放射源、准直器、闪烁光纤、SiPM、前级放大器、后级放大器、恒比定时器、符合电路以及QDC;衰减时间测试模块包括放射源、准直器、闪烁光纤、SiPM、前级放大器以及示波器。基于闪烁光纤性能测试系统能够测试闪烁光纤的衰减长度、弯曲损耗、光产额以及衰减时间,并提高测试效率及准确性。

    一种用于测试微结构中子探测器综合性能的系统

    公开(公告)号:CN119828205A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202510026235.6

    申请日:2025-01-08

    Abstract: 本发明提供一种用于测试微结构中子探测器综合性能的系统,包括中子慢化体,所述的中子慢化体前侧设有混合放射源和可开关γ屏蔽体;所述的中子慢化体内设有标准中子探测器、硅基微结构中子探测器和标准γ探测器,其中所述的硅基微结构中子探测器放置在恒温箱内;所述的标准中子探测器、硅基微结构中子探测器和标准γ探测器分别连接一个前端电子学器件,每个前端电子学器件均与多道计数器连接。本发明针对开发的硅基微结构中子探测器芯片原型系统进行辐射性能测试,包括热中子探测效率、n/γ甄别比、适用温度范围和计数率,以填补对三维结构硅基中子探测器测试的空白。

    一种适用于材料辐照温度调节的可变热阻结构及设计方法

    公开(公告)号:CN119666916A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411672745.2

    申请日:2024-11-21

    Abstract: 本发明涉及研究堆材料辐照技术领域,本发明提供了一种适用于材料辐照温度调节的可变热阻结构及设计方法,包括保护管和设于保护管内的待测样品,保护管和待测样品之间设置有弹性热阻,弹性热阻同时与保护管和待测样品接触,弹性热阻横截面为连续弯折而成的环形结构,保护管和待测样品之间还充填有惰性气体,通过弹性热阻同时接触待测样品外壁和保护管内壁,改变了原有气隙层的传热,增强了传热性能;同时,弯折而成的弹性热阻具备一定延展性,既增强了辐照试验中待测样品向外的传热能力,又减小了热膨胀对传热的影响,满足了多样的材料辐照试验需求;通过堆外验证试验进行参数确定,并结合堆内条件试验,快速筛选出满足需求的弹性热阻。

    一种具有自主旋转功能的常压孔道辐照装置

    公开(公告)号:CN119626603A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411581953.1

    申请日:2024-11-07

    Abstract: 本发明提供了本发明涉及研究堆材料辐照技术领域,具体涉及一种具有自主旋转功能的常压孔道辐照装置,包括远端终端及顺次相连的定位段、保护管及试验段,定位段被配置为与常压孔道口相配合,包括传动轴、限位环组件、动力传输组件、伺服电机及控制器,限位环组件套设在传动轴上,伺服电机安装在传动轴的侧方向,控制器与伺服电机电连接,远端终端与控制器通信连接,动力传输组件包括传动轴齿轮及与传动轴齿轮啮合的电机齿轮,传动轴齿轮与传动轴同轴键连接,电机齿轮与伺服电机的输出轴同轴键连接,保护管及传动轴的轴向设有引线管路。本发明采用伺服电机远程控制的方式,可实现承载受试件的辐照装置自主旋转功能,提高试验结果准确性和可靠性。

    一种用于辐照装置贯穿件的密封结构

    公开(公告)号:CN115479123B

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202211127403.3

    申请日:2022-09-16

    Abstract: 本发明公开了一种用于辐照装置贯穿件的密封结构,涉及研究堆辐照考验技术领域,它主要包括连接座和连接管,连接座具有用于贯穿件活动穿插的第一通道;连接管一端与第一通道相互连通,连接管另一端设置有密封接头;密封接头包括锁定套、连接外套以及密封套,密封套包括内外嵌套的弹性内圈组件和弹性外圈组件,弹性内圈组件和弹性外圈组件之间形成有与第一通道连通的第二通道;锁定套能够作用于弹性内圈组件和/或弹性外圈组件,以使弹性外圈组件与弹性内圈组件共同夹持密封贯穿件。该密封结构通过密封接头采用活动锁定密封的方式对贯穿件进行夹持密封,不仅密封可靠、而且密封部分拆装方便,同时具备结构小型化、操作便捷化的特点。

    一种水力特性验证试验工装
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119147216A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411200228.5

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种水力特性验证试验工装,包括第一阶段试验工装和第二阶段试验工装;第一阶段试验工装包括栅格板组件、底部筒体、锥管、下接头、筒体、上接头、进水圆筒和进水变径筒,进水圆筒和进水变径筒焊接,筒体上端焊接上接头,下端与下接头栓接,进水圆筒与筒体通过法兰连接,筒体通过法兰与栅格板组件连接,栅格板组件通过法兰与底部筒体连接,底部筒体与锥管焊接;第二阶段试验工装包括上部筒体、锥段、中部筒体、下部筒体、栅格板组件、底部筒体和锥管,上部筒体与锥段焊接,锥段与中部筒体焊接,在上部筒体侧面垂直焊接有入口管;下部筒体分别与中部筒体和栅格板组件通过法兰连接。本试验工装体积小、密封性能更优、适应性更强。

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