一种用于晶圆加工的设备

    公开(公告)号:CN106952857B

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201710193713.8

    申请日:2017-03-28

    IPC分类号: H01L21/683

    摘要: 本发明实施例公开了一种用于晶圆加工的设备,用于降低晶圆键合对在完成器件晶圆背面工艺后拆键合的难度以及成本,提高晶圆键合对拆键合的出片率。本发明实施例方法包括:第一槽、声波发生器、声波换能器、转动螺杆、夹持装置以及支撑装置;转动螺杆的一端与支撑装置相连接,另一端与夹持装置连接,夹持装置用于夹持并吸附加工元件;第一槽的第一侧壁、底部、顶部中的至少一个设有至少一个支撑装置;第一槽的底部设有声波换能器,声波换能器和声波发生器连接。

    一种硅穿孔结构的绝缘层底部开窗制造方法和硅穿孔结构

    公开(公告)号:CN105070683B

    公开(公告)日:2018-02-27

    申请号:CN201510481215.4

    申请日:2015-08-07

    发明人: 孙蓉 张国平 刘强

    IPC分类号: H01L21/768 H01L23/48

    CPC分类号: H01L21/768 H01L23/48

    摘要: 本发明涉及一种硅穿孔结构的绝缘层底部开窗制造方法和硅穿孔结构,包括:提供一晶圆,该晶圆具备正面和背面,在所述正面形成硅穿孔结构,若干个硅穿孔结构组成硅穿孔结构阵列;在所述硅穿孔结构的表面涂布封装光刻胶;对所述硅穿孔结构的孔底的光刻胶部分进行曝光并显影,形成图形漏出孔底;固化剩余的光刻胶部分,以便在所述硅穿孔结构的孔底形成具备开窗结构的绝缘层。可见,该硅穿孔结构的绝缘层底部开窗制造方法和硅穿孔结构,采用半导体光刻工艺进行绝缘层底部开窗,提高了传统的等离子体刻蚀氧化硅绝缘层开窗的效率,同时也克服了因激光烧蚀非光敏聚合物绝缘层产生的高温而带来的器件受损,稳定性高、可实施性强且成本低廉。