公开(公告)号：CN118501192A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410600686.1

申请日：2024-05-11

申请人： 深圳市新凯来工业机器有限公司

发明人： 刘振 ,  顾斌

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/207

摘要： 一种X射线衍射装置和控制方法，涉及成像装置技术领域，X射线衍射装置包括X射线源、试样台、X射线探测器和一维弯晶，X射线源用于产生第一X射线，试样台用于放置待测材料，X射线探测器用于探测待测材料产生的待测衍射X射线，一维弯晶具有衍射面，衍射面为曲面，曲面在X射线源至X射线探测器的方向上弯曲，衍射面用于发生衍射并会聚第二X射线至试样台，以在试样台上形成光斑，一维弯晶用于使第二X射线在多个角度同时入射到待测材料。本申请通过使X射线衍射装置满足上述结构，有利于使得在单位测量时间内，待测材料的多个衍射面同时发生衍射，节省了X射线衍射装置对单个待测材料进行测试的测量时间，提升了X射线衍射装置的测试速度。