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公开(公告)号：CN115687173A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211342512.7
申请日：2022-10-31
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
IPC分类号： G06F12/02 , G06F12/1009
摘要： 本发明适用于存储设备技术领域，提供了一种数据地址查询方法、装置、电子设备及可读存储介质，方法包括：创建包括多个逻辑地址区块的全局连续地址区块位图，每个逻辑地址区块包括连续的逻辑地址范围；在全局连续地址区块位图中确定待查找逻辑地址的目标逻辑地址区块，根据目标逻辑地址区块的状态判断目标逻辑地址区块中逻辑地址范围的实体地址是否连续；若连续，则检测目标逻辑地址区块中逻辑地址范围对应的起始实体地址是否存储在连续实体地址快取区中；若存储在连续实体地址快取区中，则基于待查找逻辑地址及目标逻辑地址区块中逻辑地址范围对应的起始实体地址读取目标实体地址。本申请能够降低命中失败惩罚，增加数据记录量并提高读取速率。
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公开(公告)号：CN115440293A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202210954206.2
申请日：2022-08-10
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试系统以及测试方法，芯片测试系统包括上位机模块；以及与所述上位机模块通信的下位机模块；所述上位机模块包括PC端以及与所述PC端连接的控制单元；所述下位机模块包括多个级联的下位机，所述下位机连接待测芯片，多个级联的所述下位机中，首位所述下位机与所述控制单元通信连接；所述控制单元根据所述PC端发送的GPIO配置信息自动配置所述待测芯片的测试主控的GPIO端口。本发明通过增加控制单元对待测芯片的测试主控的GPIO端口进行自动配置，替代了现有的手动拨码进行配置，能够节省时间与人力成本，提高对存储芯片的测试效率。
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公开(公告)号：CN112613081A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011432364.9
申请日：2020-12-10
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
摘要： 本发明适用于计算机技术领域，提供了一种存储芯片序列码生成方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：中央服务器获取所有测试位传来的序列码获取信号，并将所有的所述序列码获取信号按顺序存放在栈区；所述中央服务器判断序列码配置文件的当前索引值是否被占用；若是，则所述中央服务器获取所述序列码配置文件产生的最新序列码，并将所述最新序列码回传给所述栈区内第一序列码获取信号对应的所述测试位，同时，所述序列码配置文件记录所述最新序列码的最新索引值。本发明提供的方法，解决了现有的序列码生成方法繁琐易错、容易浪费序列码字段的问题。
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公开(公告)号：CN107392492B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201710652821.7
申请日：2017-08-02
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
发明人： 倪黄忠
摘要： 本发明公开了一种半导体智能化管理系统，该管理系统包括DB固晶部模块、WB邦定部模块、MD塑封部模块、JS切割部模块、TS测试部模块，本发明的半导体智能化管理系统数据稳定，流程清晰，不会出现数据混乱的情况，而且上一道工序未完成，后一道工序就无法进行下去，因此，所有工序所负责的人员必须完成该工序的加工过程，才能够一步一步的完成最终成品。
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公开(公告)号：CN110109791A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201910407377.1
申请日：2019-05-16
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
发明人： 倪黄忠
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/263
摘要： 本发明公开了一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1：取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:Emmc PE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。本发明中，该测试方法采用高温读写的环境，利用高温下的读写会加速data error bit的漂升的原理,可以测试eMMC本体是否够强壮，同时也会触发eMMC的FW在高温环境下对error bit漂高到门槛值而还没有发生UECC的相对弱的block进行把数据提前搬移到空的block,从而保证数据自身的安全性，同时也可以测试出在这种恶劣环境下,nand flash memory 电子游离异常后,eMMC固件对data异常的处理是否可以保证数据的安全可靠性，从而最大化的提高测试方法的准确性。
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公开(公告)号：CN107392492A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710652821.7
申请日：2017-08-02
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
发明人： 倪黄忠
摘要： 本发明公开了一种半导体智能化管理系统，该管理系统包括DB固晶部模块、WB邦定部模块、MD塑封部模块、JS切割部模块、TS测试部模块，本发明的半导体智能化管理系统数据稳定，流程清晰，不会出现数据混乱的情况，而且上一道工序未完成，后一道工序就无法进行下去，因此，所有工序所负责的人员必须完成该工序的加工过程，才能够一步一步的完成最终成品。
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公开(公告)号：CN105632568A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610135238.4
申请日：2016-03-10
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
发明人： 倪黄忠
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明公开了一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法，检测设备包括：置于架体上层的托盘组件、导轨组件、检测装置；升降装置向上推送，将托盘组件上的托盘本体向上托起，使托盘上的、已经排布好的存储盘半成品的金属接触部与检测装置下部的检测金属触头接触，经检测单元检测存储盘半成品，显示器上的矩阵列式显示模块通过亮绿灯或红灯判断存储盘半成品为良品或不良品。本发明将存储盘检测设备设计成矩阵列式检测，每次可以检测数十个存储盘，极大的提交了检测效率，显示器上的显示模块与托盘上的排布一致，通过绿灯、红灯快速判断托盘上的存储盘为良品或不良品，进而快速将不良品挑出，达到快速检测的目的。
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公开(公告)号：CN118095327A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202211501555.5
申请日：2022-11-28
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
IPC分类号： G06K19/07
摘要： 本申请属于存储卡领域，提供了一种相对电子设备的PCB板可拆卸设置的适配NVMe协议的非嵌入式主系统存储卡，其包括：基板，基板包括由自身的一端向另一端延伸的引脚设置区域；设于基板中的至少一个非易失性存储器与存储器控制器；与至少一个非易失性存储器和/或存储器控制器电连接的多个引脚，多个引脚至少被配置为数据引脚、供电引脚、命令引脚与接地引脚，数据引脚至少为两组，两个相邻或不相邻设置的数据引脚为一组；多个引脚的延伸方向与基板的长度方向平行，并在引脚设置区域内沿基板的宽度方向设为至少一排；适配NVMe协议的非嵌入式主系统存储卡的数据传输速度至少为200M/S。本申请还提供了一种电子设备。本申请能够便于存储卡的拆卸、更换升级。
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公开(公告)号：CN118093483A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202211501529.2
申请日：2022-11-28
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
摘要： 本申请属于存储卡领域，提供了一种相对电子设备的PCB板可拆卸设置的适配SATA协议的非嵌入式主系统存储卡，其包括：基板，基板包括由自身的一端向另一端延伸的引脚设置区域；设于基板中的至少一个非易失性存储器与存储器控制器；与至少一个非易失性存储器和/或存储器控制器电连接的多个引脚，多个引脚至少被配置为数据引脚、供电引脚、命令引脚与接地引脚，数据引脚至少为两组，两个相邻或不相邻设置的数据引脚为一组；多个引脚的延伸方向与基板的长度方向平行，并在引脚设置区域内沿基板的宽度方向设为至少一排；适配SATA协议的非嵌入式主系统存储卡的数据传输速度至少为200M/S。本申请还提供了一种电子设备。本申请便于存储卡的调试、拆卸、维修更换。
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公开(公告)号：CN118093475A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202211502214.X
申请日：2022-11-28
申请人： 深圳市时创意电子有限公司
IPC分类号： G06F13/40
摘要： 本申请属于存储卡领域，提供了一种相对电子设备的PCB板可拆卸设置的适配UFS协议的非嵌入式主系统存储卡，其包括：基板，基板包括由自身的一端向另一端延伸的引脚设置区域；设于基板中的至少一个非易失性存储器与存储器控制器；与至少一个非易失性存储器和/或存储器控制器电连接的多个引脚，多个引脚至少被配置为数据引脚、供电引脚、命令引脚与接地引脚，数据引脚至少为两组，两个相邻或不相邻设置的数据引脚为一组；多个引脚的延伸方向与基板的长度方向平行，并在引脚设置区域内沿基板的宽度方向设为至少一排；适配UFS协议的非嵌入式主系统存储卡运行eMMC、UFS、NVMe或SATA协议，数据传输速度至少为200M/S。本申请还提供了一种电子设备。本申请能够节约SOC厂商的调试时间、精力与成本。
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