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公开(公告)号：CN102413354A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201110294106.3
申请日：2011-10-05
申请人： 深圳市联德合微电子有限公司 , 华南理工大学
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明提供了一种手机摄像模组自动光学检测方法、装置及系统，该方法包括以下步骤：a：将手机摄像模组与控制电脑连接，读入其拍摄的测试图片；b：根据测试图片，判断该手机摄像模组是否存在重度花屏，如果不存在，进入步骤c；否则，判断为不合格品；c：控制电脑发出白板置位的指令给控制电路，使白板置于拍摄位置，拍摄一张白板图像；d：读入白板图像后通过轻微花屏检测模块判断该手机摄像模组不存在轻微花屏，然后基于上述白板图像，通过脏污检测模块进行镜头脏污检测，如果不存在脏污，则为合格品。本发明可以对手机摄像模组可能出现的重度花屏、轻微花屏、脏污进行自动检测，且具有准确、可靠、检测效率高等优点。
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公开(公告)号：CN102413354B
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201110294106.3
申请日：2011-10-05
申请人： 深圳市联德合微电子有限公司 , 华南理工大学
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明提供了一种手机摄像模组自动光学检测方法、装置及系统，该方法包括以下步骤：a：将手机摄像模组与控制电脑连接，读入其拍摄的测试图片；b：根据测试图片，判断该手机摄像模组是否存在重度花屏，如果不存在，进入步骤c；否则，判断为不合格品；c：控制电脑发出白板置位的指令给控制电路，使白板置于拍摄位置，拍摄一张白板图像；d：读入白板图像后通过轻微花屏检测模块判断该手机摄像模组不存在轻微花屏，然后基于上述白板图像，通过脏污检测模块进行镜头脏污检测，如果不存在脏污，则为合格品。本发明可以对手机摄像模组可能出现的重度花屏、轻微花屏、脏污进行自动检测，且具有准确、可靠、检测效率高等优点。
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公开(公告)号：CN103424416B
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201310342862.8
申请日：2013-08-07
申请人： 华南理工大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提供了一种基于X射线的轮毂检测系统，包括上位机、下位机、射线源、图像增强器、高压发生器和CCD图像传感器；所述上位机中设有半自动缺陷检测系统，所述下位机中设有PLC机械控制系统和高压控制系统。本发明还提供了一种应用于基于X射线的轮毂检测系统的检测方法，包括以下步骤：初始化设置；创建轮毂型号工位数据库；轮毂型号识别；系统调节轮毂拍摄位置及射线源强度；用户判断轮毂合格性；轮毂分流。具有能根据事先创建轮毂型号工位数据库，在系统工作过程中自动调节轮毂拍摄部位及射线源强度，实现轮毂缺陷的半自动检测，具有智能化、调节效率高和效果好等优点。
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公开(公告)号：CN101936928B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201010251272.0
申请日：2010-08-11
申请人： 华南理工大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提供了一种面类食品射线检测方法，包括：(1)X射线发生装置发射X射线，使X射线穿过被测食品；(2)CCD摄像机接收穿过被测食品的X射线，形成被测食品的CCD图像；(3)控制电脑中的图像输入模块从CCD摄像机获取所述CCD图像；(4)所述CCD图像经图像信息再组织模块处理；(5)对被测食品检测识别，并对存在面饼破裂、料包丢失或存在异物的情况做出相应的报警信号。本发明还提供了实现上述方法的面类食品射线检测装置，包括食品传送装置、成像装置、控制电路和控制电脑，控制电脑内设有异物智能识别系统。本发明可对面类食品的面饼破裂、料包丢失或异物进行检测、识别及报警，具有安全准确、效率高等优点。
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公开(公告)号：CN102064072A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN201010529894.5
申请日：2010-10-29
申请人： 华南理工大学
IPC分类号： H01J31/50
摘要： 本发明提供了一种X射线增强器矫正系统及其方法，该系统包括依次光路连接的X射线源、X射线增强器、CCD感光电路和控制电脑，所述控制电脑中设有离线标定系统和在线矫正系统，离线标定系统包括依次连接的标定图像去噪系统、标定图像角点提取系统和畸变特性研究系统，所述CCD感光电路与标定图像去噪系统连接，畸变特性研究系统与在线矫正系统连接，所述在线矫正系统与CCD感光电路连接；X射线源与X射线增强器之间还置有与其光路连接的专用标定板或被测产品。本发明可通过离线标定系统获取标定图像以求得畸变映射参数，且可在在线状态下对被测产品的X射线图像进行矫正，输出没有失真的X射线图像，以供后续工序使用。
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公开(公告)号：CN103376270A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201310277692.X
申请日：2013-07-03
申请人： 华南理工大学
IPC分类号： G01N23/10
摘要： 本发明提供了一种基于X射线线扫的元器件自动计数方法，包括：（1）料盘进入射线室；（2）料盘触发红外传感器，开始线阵CCD采集；（3）线阵CCD接收；（4）料盘触发红外传感器，停止采集；（5）线阵CCD将接收的信号转换为数字信号并通过控制盒传输到计算机，计算机将数字信号转换为X射线图像；（6）分析X射线图像，自动计算出元器件个数，显示计数结果。本发明还提供了实现上述方法的基于X射线线扫的元器件自动计数装置，包括料盘传送带、射线屏蔽室、X射线发生器、线阵CCD图像传感器、红外对射传感器、控制计算机、线阵传感器控制盒。具有可对生产线上的元器件进行自动计数，准确、稳定、快速等优点。
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公开(公告)号：CN103157607A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201110428039.X
申请日：2011-12-19
申请人： 华南理工大学 , 广东盈嘉科技工程发展股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种物品识别与分拣装置，包括主传送带、不合格物品传送带、机器人系统和计算机，所述机器人系统包括机器人控制器、Y轴滑槽和X轴滑槽；所述Y轴滑槽上设有滑块，所述滑块上固定有光学照相机及机械手。本发明还公开了上述装置的物品识别与分拣方法，通过对X射线图像、可见光图像进行分析，识别出不合格物品，并通过机械手将不合格物品逐一移至不合格物品传送带。本发明实现了对生产线上的物品进行自动识别与分拣，且具有准确、可靠、效率高的优点。
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公开(公告)号：CN102064072B
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201010529894.5
申请日：2010-10-29
申请人： 华南理工大学
IPC分类号： H01J31/50
摘要： 本发明提供了一种X射线增强器矫正系统及其方法，该系统包括依次光路连接的X射线源、X射线增强器、CCD感光电路和控制电脑，所述控制电脑中设有离线标定系统和在线矫正系统，离线标定系统包括依次连接的标定图像去噪系统、标定图像角点提取系统和畸变特性研究系统，所述CCD感光电路与标定图像去噪系统连接，畸变特性研究系统与在线矫正系统连接，所述在线矫正系统与CCD感光电路连接；X射线源与X射线增强器之间还置有与其光路连接的专用标定板或被测产品。本发明可通过离线标定系统获取标定图像以求得畸变映射参数，且可在在线状态下对被测产品的X射线图像进行矫正，输出没有失真的X射线图像，以供后续工序使用。
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公开(公告)号：CN101576508B
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200910039848.4
申请日：2009-05-27
申请人： 华南理工大学
摘要： 本发明公开了芯片的一种外观缺陷自动检测装置及检测方法，该检测装置包括：控制电脑、芯片自动传送系统，控制电脑设有缺陷智能识别系统，芯片自动传送系统与缺陷智能识别系统连接；该检测方法的步骤为：(1)调整对被测芯片照明的光源；经过光学镜头，传送到CCD摄像机；(2)将CCD摄像机所成图像通过线缆传输到控制电脑；(3)缺陷智能识别系统工作，进行图像识别，检测与评判图像；(4)缺陷智能识别系统发送相应信号到控制电路以控制传送装置、分流机械进行合格品与非合格品的产品分流。本发明可以对芯片外观缺陷进行自动检测，实现准确、可靠和高效的芯片外观质量检测。
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公开(公告)号：CN101576508A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200910039848.4
申请日：2009-05-27
申请人： 华南理工大学
摘要： 本发明公开了芯片的一种外观缺陷自动检测装置及检测方法，该检测装置包括：控制电脑、芯片自动传送系统，控制电脑设有缺陷智能识别系统，芯片自动传送系统与缺陷智能识别系统连接；该检测方法的步骤为：(1)调整对被测芯片照明的光源；经过光学镜头，传送到CCD摄像机，(2)将CCD摄像机所成图像通过线缆传输到控制电脑，(3)缺陷智能识别系统工作，进行图像识别，检测与评判图像，(4)缺陷智能识别系统发送相应信号到控制电路以控制传送装置、分流机械进行合格品与非合格品的产品分流；本发明可以对芯片外观缺陷进行自动检测，实现准确、可靠和高效的芯片外观质量检测。
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