公开(公告)号：CN113640654B

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202110871844.3

申请日：2021-07-30

申请人： 深圳速跃芯仪科技有限公司

发明人： 戴志坚 ,  杨万渝 ,  武建

IPC分类号： G01R31/317

摘要： 本发明公开了一种高速状态分析方法及系统，系统包括采集单元、调节单元、时钟沿识别单元、压缩单元和存储单元；所述调节单元连接采集单元和时钟沿识别单元，压缩单元连接时钟沿识别单元和存储单元；时钟通道和数据通道进入采集单元实现50GSPS采样率的采样，再调节单元调节保持时间和建立时间，之后对时钟上升沿位置识别，将其作为数据有效的标志位，并将其适当压缩后存入存储单元。本发明通过对数据通道/时钟通道交替采样，利用25GSPS的高速收发口实现了50GSPS的采样率，在分析速率变快的同时，还能准确获取时钟沿位置的数据；即便在高频率的时钟频率下，也能够正常工作；同时，还能实现建立时间和保持时间的微小调节。

公开(公告)号：CN113640656B

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202110873222.4

申请日：2021-07-30

申请人： 深圳速跃芯仪科技有限公司

发明人： 戴志坚 ,  杨万渝 ,  惠佳成

IPC分类号： G01R31/3183

摘要： 本发明公开了基于延时的数字测试码型生成方法，包括以下步骤：一：测试向量抽象，将原始信号A的测试波形进行向量抽象，获得具有若干个周期波形原始信号A；二：测试码型合成，对原始信号A进行延迟处理，分别获得第一延迟信号B和第二延迟信号C，并对第一延迟信号B和第二延迟信号C进行逻辑处理生成脉冲信号D。本发明能满足数字IC的工作频率要求，同时可以提高在数字IC支持的范围内测试码型的生成速度，节约了测试时间，可产生最高200Mbps，边沿定位分辨率最高39ps的数字测试码型，为精确控制发送的测试向量提供了保证，有利于更为合理地指定测试方案、编写测试向量。

公开(公告)号：CN221841087U

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202420263592.5

申请日：2024-02-03

申请人： 深圳速跃芯仪科技有限公司

发明人： 戴志坚

IPC分类号： G01R1/04

摘要： 本实用新型公开了一种测试机台架，包括底座、支撑主体、悬臂组件和旋转臂，所述支撑主体底端安装在底座上，在支撑主体内安装有升降机构，悬臂组件的一端与升降机构连接，另一端与旋转臂转动连接。本实用新型易于维护，更换测试机台底面零件，操作简单，只需一人即可操作，省时省力。

公开(公告)号：CN308747265S

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202430031963.2

申请日：2024-01-17

申请人： 深圳速跃芯仪科技有限公司

设计人： 戴志坚

摘要： 1.本外观设计产品的名称：机箱（SY3000）。
2.本外观设计产品的用途：用于测试集成电路的机箱。
3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状、图案及其结合。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。

公开(公告)号：CN308810993S

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202430031910.0

申请日：2024-01-17

申请人： 深圳速跃芯仪科技有限公司

设计人： 戴志坚

摘要： 1.本外观设计产品的名称：机箱（SY1000）。
2.本外观设计产品的用途：用于测试集成电路的机箱。
3.本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状、图案及其结合。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。