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公开(公告)号:CN107728222A
公开(公告)日:2018-02-23
申请号:CN201710778390.9
申请日:2017-09-01
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01V8/10
摘要: 本发明公开了属于安检设备及图像处理技术领域的一种主动式太赫兹安检成像方法及系统。该安检成像系统由数据采集与处理系统分别与太赫兹发射装置、太赫兹线阵探测器和带状波束扫描控制单元相连,分束器分别连接波束整形光学组件、太赫兹线阵探测器和太赫兹聚焦光学组件,带状波束扫描控制单元和被测目标组成。该方法采用以太赫兹源主动发射太赫兹辐射、带状聚焦波束一维扫描、线性阵列太赫兹探测器接收的模式,快速完成整个目标平面的照射与扫描,达到对目标快速成像和检查的目的;本发明采用主动式太赫兹安检成像系统提高了成像质量。采用一维扫描方式大大节省了成像时间。采用阵列探测器,简化电路系统结构,降低系统成本,减少经费开支。
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公开(公告)号:CN107728222B
公开(公告)日:2019-09-27
申请号:CN201710778390.9
申请日:2017-09-01
申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01V8/10
摘要: 本发明公开了属于安检设备及图像处理技术领域的一种主动式太赫兹安检成像方法及系统。该安检成像系统由数据采集与处理系统分别与太赫兹发射装置、太赫兹线阵探测器和带状波束扫描控制单元相连,分束器分别连接波束整形光学组件、太赫兹线阵探测器和太赫兹聚焦光学组件,带状波束扫描控制单元和被测目标组成。该方法采用以太赫兹源主动发射太赫兹辐射、带状聚焦波束一维扫描、线性阵列太赫兹探测器接收的模式,快速完成整个目标平面的照射与扫描,达到对目标快速成像和检查的目的;本发明采用主动式太赫兹安检成像系统提高了成像质量。采用一维扫描方式大大节省了成像时间。采用阵列探测器,简化电路系统结构,降低系统成本,减少经费开支。
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