一种漏点探漏效果的评估方法

    公开(公告)号:CN109027700B

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201810669226.9

    申请日:2018-06-26

    IPC分类号: F17D5/02

    摘要: 本发明提出一种漏点探漏效果的评估方法,包括收集暗漏点信息,并对所述收集的暗漏点信息进行预处理;确定漏点生长函数;根据漏点生长函数确定暗漏点和背景漏点;计算不同探漏周期内的暗漏点和背景漏点数;计算探漏系数,探漏系数=暗漏漏点数/(暗漏漏点数+背景漏点数),以及计算历史探漏周期的平均探漏系数P;评估不同探漏周期的探漏效果:若本次探漏周期内探漏系数高于P,说明探漏工作效果好;若探漏系数低于P,说明探漏工作效果差。本发明的方法还包括计算不同区域内的漏点分布情况,评估不同区域的探漏效果,以及预测下一个探漏周期可能存在的漏点数,制定探漏工作计划。

    一种漏点探漏效果的评估方法

    公开(公告)号:CN109027700A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810669226.9

    申请日:2018-06-26

    IPC分类号: F17D5/02

    摘要: 本发明提出一种漏点探漏效果的评估方法,包括收集暗漏点信息,并对所述收集的暗漏点信息进行预处理;确定漏点生长函数;根据漏点生长函数确定暗漏点和背景漏点;计算不同探漏周期内的暗漏点和背景漏点数;计算探漏系数,探漏系数=暗漏漏点数/(暗漏漏点数+背景漏点数),以及计算历史探漏周期的平均探漏系数P;评估不同探漏周期的探漏效果:若本次探漏周期内探漏系数高于P,说明探漏工作效果好;若探漏系数低于P,说明探漏工作效果差。本发明的方法还包括计算不同区域内的漏点分布情况,评估不同区域的探漏效果,以及预测下一个探漏周期可能存在的漏点数,制定探漏工作计划。

    一种发光材料及其应用以及包含其的有机电致发光器件

    公开(公告)号:CN116478191A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310241280.4

    申请日:2023-03-14

    申请人: 清华大学

    摘要: 本发明涉及一种发光材料及其应用以及包含该化合物的有机电致发光器件。本发明所述化合物具有如式(1)、式(2)或式(3)中任意一所示的结构,其中X1~X4各自独立地选自单键、O、S、Se、CR1R2、NR3或SiR3,m、n、p、q分别独立地选自1或0;M选自氢或选自取代或未取代的C6~C60的芳基。本发明提供的这种MR‑TADF材料具有高色纯度和高发光效率,实现了电致发光条件下红光至深红光的发射,极大地丰富了多重共振‑热活化延迟荧光的材料体系和发光颜色范围,是性能良好的有机发光功能材料。

    一种发光材料及其应用以及包含其的有机电致发光器件

    公开(公告)号:CN116535430A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310241276.8

    申请日:2023-03-14

    申请人: 清华大学

    摘要: 本发明涉及一种含硼二嗪类有机化合物,同时涉及这类化合物的应用以及包含该化合物的有机电致发光器件。本发明所述化合物具有如式(1)、式(2)或式(3)中任一所示的结构,其中X1~X6各自独立地选自单键、O、S、Se、CR1R2、NR3或SiR3,m、n、p、q、a、b分别独立地选自1或0;M选自氢或选自取代或未取代的C6~C60的芳基。本发明提供的这种MR‑TADF材料具有高色纯度和高发光效率,实现了电致发光条件下红光至深红光的发射,极大地丰富了多重共振‑热活化延迟荧光的材料体系和发光颜色范围,是性能良好的有机发光功能材料。