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    霍尔探头有效测量位置的测定方法
    1.
    发明授权
    霍尔探头有效测量位置的测定方法 有权

    公开(公告)号：CN109855521B

    公开(公告)日：2020-08-04

    申请号：CN201910008333.1

    申请日：2019-01-04

    申请人： 清华大学深圳研究生院

    发明人： 冯峰 ,  瞿体明 ,  马增贤 ,  母辉 ,  汪林立 ,  杨置荣

    IPC分类号： G01B7/02

    摘要： 霍尔探头有效测量位置的测定方法，属于磁场测量领域。将标准导线安装在样品台上；霍尔探头移动到接近标准导线；标准导线通电，并移动霍尔探头到导线的中心位置；测量已知通电标准导线的中心位置的磁场强度。根据标准导线的磁感应强度B、电流I、高度h和标准导线的尺寸参数的关系式，基于使用的电流值、测得的磁感应强度值和标准导线的尺寸参数值，计算得到霍尔探头有效测量位置距离探头底部高度h的值。更优的通过修改电流值多次测量，或通过使用不同宽度的标准导线来进行多次测量，使用数据拟合的方法获得更高的精度。

    一种制作稀土钡铜氧超导膜的方法
    2.
    发明授权
    一种制作稀土钡铜氧超导膜的方法 有权

    公开(公告)号：CN107342140B

    公开(公告)日：2019-03-15

    申请号：CN201710633336.5

    申请日：2017-07-28

    申请人： 清华大学深圳研究生院

    发明人： 冯峰 ,  汪林立 ,  杨置荣 ,  卢弘愿 ,  瞿体明 ,  顾晨

    IPC分类号： H01B12/06 ,  H01B13/00 ,  C23C18/12

    摘要： 本发明公开了一种制作稀土钡铜氧超导膜的方法。该方法包括以下步骤：(a)配制含有稀土元素离子、钡离子、铜离子与溶剂的前驱溶液；(b)通过不高于20℃的恒温方式控制涂覆温度，控制基底和前驱溶液在同一设定温度，将前驱溶液涂覆于基底上得到前驱膜；(c)将前驱膜置入热处理炉中，通过热分解、烧结和充氧步骤获得稀土钡铜氧超导膜。通过控制涂覆温度处在特定的恒定温度，有效地增加薄膜的厚度。

    霍尔探头有效测量位置的测定方法
    5.
    发明公开
    霍尔探头有效测量位置的测定方法 有权

    公开(公告)号：CN109855521A

    公开(公告)日：2019-06-07

    申请号：CN201910008333.1

    申请日：2019-01-04

    申请人： 清华大学深圳研究生院

    发明人： 冯峰 ,  瞿体明 ,  马增贤 ,  母辉 ,  汪林立 ,  杨置荣

    IPC分类号： G01B7/02

    摘要： 霍尔探头有效测量位置的测定方法，属于磁场测量领域。将标准导线安装在样品台上；霍尔探头移动到接近标准导线；标准导线通电，并移动霍尔探头到导线的中心位置；测量已知通电标准导线的中心位置的磁场强度。根据标准导线的磁感应强度B、电流I、高度h和标准导线的尺寸参数的关系式，基于使用的电流值、测得的磁感应强度值和标准导线的尺寸参数值，计算得到霍尔探头有效测量位置距离探头底部高度h的值。更优的通过修改电流值多次测量，或通过使用不同宽度的标准导线来进行多次测量，使用数据拟合的方法获得更高的精度。