基于光栅尺与经纬仪标定离轴抛物镜离轴量的方法及装置

    公开(公告)号:CN106932179A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710115529.1

    申请日:2017-02-24

    IPC分类号: G01M11/08

    CPC分类号: G01M11/081

    摘要: 本发明公开了基于光栅尺与经纬仪标定离轴抛物镜离轴量的方法及装置,方法包括大致对准调制光路步骤、确定干涉仪焦点位置步骤、测定干涉仪焦点的位置步骤、测定离轴抛物镜镜面特征点边缘线位置步骤、测量第二平面反射镜十字线交叉点距离轴抛物镜镜面特征点边缘线距离步骤以及计算离轴抛物镜的离轴量步骤,通过设有十字线的第二平面反射镜找到离轴抛物镜特征位置,光栅尺及经纬仪配合使用可以实现对两特征位置间距离进行精确测量,结合测量十字线与第二平面镜边缘间的距离,再通过计算即可得到检测时的离轴抛物镜的离轴量数值,若与理论离轴量的偏差不合格,则调整离轴抛物镜的位置,直至位置正确,该方法具有标定精度高、标定步骤简单等优点。

    一种气体检测装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106442354B

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN201610863505.X

    申请日:2016-09-29

    IPC分类号: G01N21/31 G01N21/03

    摘要: 本发明公开了一种气体检测装置,其包括外圆柱筒、内圆柱筒、入射光源以及传感器,外圆柱筒和内圆柱筒同轴心设置,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面组成反射腔体,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面均为反射面,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面组成的反射腔体间充满被检气体,外圆柱筒筒壁上设有多个开孔,用于安放入射光源和传感器,入射光源用于提供检测气体的光束,传感器用于将光信号转化为电信号,以用于气体特性分析。本发明装置尺寸较小、装调简单易操作,成本低,耐环境温度变化能力强,使用范围广,稳定性好,能同时检测不同气体、检测过程中光程可选择。

    一种用于准直头的插拔式高精度重复定位装置

    公开(公告)号:CN108326772B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201711480966.X

    申请日:2017-12-29

    IPC分类号: B25B11/00

    摘要: 本发明公开了一种应用于激光准直头的插拔式高精度重复定位装置,包括包括弹性夹套、压套、支座和压盖,所述弹性夹套套装于压套内,所述压套可沿弹性夹套轴向往复移动,所述弹性夹套的后端面贴合于支座的内底面,前端面悬空。本发明所提供的用于准直头插拔式高精度重复定位的装置,在首次通过调整或研磨支座调整垫可以实现高精度的角度和位置调整。若后期由于维修需要拆掉准直头,只需松掉锁紧螺钉,并拧松压盖,即可实现准直头的拔出。待准直头维修后,直接将准直头插入弹性夹套,拧紧压盖,并将锁紧螺钉拧紧即可实现准直头的高精度重复定位。

    一种用于准直头的插拔式高精度重复定位装置

    公开(公告)号:CN108326772A

    公开(公告)日:2018-07-27

    申请号:CN201711480966.X

    申请日:2017-12-29

    IPC分类号: B25B11/00

    摘要: 本发明公开了一种应用于激光准直头的插拔式高精度重复定位装置,包括弹性夹套、压套、支座和压盖,所述弹性夹套套装于压套内,所述压套可沿弹性夹套轴向往复移动,所述弹性夹套的后端面贴合于支座的内底面,前端面悬空。本发明所提供的用于准直头插拔式高精度重复定位的装置,在首次通过调整或研磨支座调整垫可以实现高精度的角度和位置调整。若后期由于维修需要拆掉准直头,只需松掉锁紧螺钉,并拧松压盖,即可实现准直头的拔出。待准直头维修后,直接将准直头插入弹性夹套,拧紧压盖,并将锁紧螺钉拧紧即可实现准直头的高精度重复定位。

    一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法

    公开(公告)号:CN106871831A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201710134903.2

    申请日:2017-03-07

    IPC分类号: G01B21/00

    CPC分类号: G01B21/00

    摘要: 本发明公开了一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法,包括靶标设置步骤,测量各靶标对应的检测位置坐标步骤,测量各靶标对应的加工位置坐标步骤,检测位置坐标换算步骤,拟合步骤。通过在大口径平面反射镜镜面粘贴i个靶标,利用检测仪器测量各靶标对应的检测位置坐标,将大口径平面反射镜移至加工设备,利用加工测头测量各靶标的加工位置坐标,对靶标在加工坐标系内测量结果与其在检测坐标系内测量结果的关系进行数学换算,可以得出经过变换后的坐标结果,用数学方法拟合,求得加工坐标系与检测坐标系的变换关系,从而将面形检测结果换算到加工坐标系内,进行加工坐标系与检测坐标系对准,提高了生产效率,同时保障了产品质量。

    一种气体检测装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106442354A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610863505.X

    申请日:2016-09-29

    IPC分类号: G01N21/31 G01N21/03

    摘要: 本发明公开了一种气体检测装置,其包括外圆柱筒、内圆柱筒、入射光源以及传感器,外圆柱筒和内圆柱筒同轴心设置,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面组成反射腔体,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面均为反射面,外圆柱筒的内表面和内圆柱筒的外表面组成的反射腔体间充满被检气体,外圆柱筒筒壁上设有多个开孔,用于安放入射光源和传感器,入射光源用于提供检测气体的光束,传感器用于将光信号转化为电信号,以用于气体特性分析。本发明装置尺寸较小、装调简单易操作,成本低,耐环境温度变化能力强,使用范围广,稳定性好,能同时检测不同气体、检测过程中光程可选择。

    一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法

    公开(公告)号:CN106338261B

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201610820673.0

    申请日:2016-09-13

    IPC分类号: G01B11/26

    摘要: 本发明公开了一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法,包括以下步骤:(1)利用第一干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合第一平面;(2)调整平面反射镜位置,利用第二干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合第二平面;(3)计算第一平面与第二平面出射平面波间的角度偏差。本发明实现对光学系统装调中涉及到的平面波角度标定,具有标定精度高、标定步骤简单的优点。

    用于激光准直头的高精度调节装置

    公开(公告)号:CN107763390B

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201710800961.4

    申请日:2017-09-07

    IPC分类号: G02B7/00

    摘要: 本发明涉及一种用于激光准直头的高精度调节装置,该装置包括:底座;圆形球头,其嵌套于激光准直头的一端;球铰座,其底面安装于所述底座上,上面开有球形槽,所述圆形球头的球面与球形槽通过高精度研磨,实现圆形球头在球铰座内滚动时无平移,且其球头的球心和球铰座的球心重合;以及用于调节激光准直头另一端的水平和竖直螺纹副。使用本发明时,设置好预紧力,调整两个高精度螺纹副,实现高精度角度调节。调节完成后,还旋转侧顶机构手柄,压紧预紧弹簧,使侧顶机构刚性接触,然后,通过压紧机构使得随型金属网罩压紧球头,可实现准直头高精度定位和夹紧。

    一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法

    公开(公告)号:CN106871831B

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201710134903.2

    申请日:2017-03-07

    IPC分类号: G01B21/00

    摘要: 本发明公开了一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法,包括靶标设置步骤,测量各靶标对应的检测位置坐标步骤,测量各靶标对应的加工位置坐标步骤,检测位置坐标换算步骤,拟合步骤。通过在大口径平面反射镜镜面粘贴i个靶标,利用检测仪器测量各靶标对应的检测位置坐标,将大口径平面反射镜移至加工设备,利用加工测头测量各靶标的加工位置坐标,对靶标在加工坐标系内测量结果与其在检测坐标系内测量结果的关系进行数学换算,可以得出经过变换后的坐标结果,用数学方法拟合,求得加工坐标系与检测坐标系的变换关系,从而将面形检测结果换算到加工坐标系内,进行加工坐标系与检测坐标系对准,提高了生产效率,同时保障了产品质量。