质谱仪智能重新找基线方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116541665A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310291041.X

    申请日:2023-03-23

    发明人: 李八颐 汤劲松

    IPC分类号: G06F18/15 G06F17/18

    摘要: 质谱仪智能重新找基线方法。所述方法用于质谱仪图谱分析中,所述方法包括如下步骤:(一)选取试样离子采样点中的离子流的最大强度值,以最大强度值的中间值作为强度值界线,将全部试样离子采样点按照强度值划分为上下两组数据,(二)判断步骤(一)划分出的两组数据的个数,并选取数据个数多的一组数据作为待划分数据组,将待划分数据组重复步骤(一)、步骤(二),直到无法继续再划分为止。该方法根据峰强度值的中间值划分出两组数据并判断两组数据个数的多与少,然后留下个数多的组并用相同方法继续分组,最后能得到图谱基线,该方法只要有数据就能准确确定基线位置,能节省操作时间和技术难度。