公开(公告)号：CN116131879A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202310028285.9

申请日：2023-01-09

申请人： 湖南艾科诺维科技有限公司

发明人： 易博文 ,  甘伟 ,  王萌

IPC分类号： H04B1/713 ,  G06F18/23

摘要： 本发明公开了一种跳频频率集聚类分析方法，包括以下步骤：对跳频速度和驻留时间分别进行数据筛选后求平均值；以第一步长从起始频率点开始选取锚点，将与所有锚点距离的平均误差最小的频点指定为最佳起始频率点；统计以第一步长从最佳起始频率点开始选取的聚类基点的撞击点和撞击次数；统计真实撞击基点数量，计算每个真实撞击基点的估计值；比较真实撞击基点的数量与目标值的大小，以确定跳频信号识别是否成功，将每个真实撞击基点的估计值汇总得到跳频频率集。本发明复杂度低，能够针对测试指标得到准确估计结果。

公开(公告)号：CN114664369A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202210134462.7

申请日：2022-02-14

申请人： 湖南艾科诺维科技有限公司

发明人： 甘伟 ,  邓新志 ,  易博文 ,  孙恩元 ,  王萌

IPC分类号： G11C29/56

摘要： 本发明公开了一种存储芯片测试方法及装置，方法包括：获取上位机指令，读取各存储芯片的类型，分别对每个第一类型存储芯片进行第一测试，分别对每个第二类型存储芯片进行第二测试；第一测试对存储芯片每个地址空间写入测试数据并验证，验证通过后读取存储芯片的所有保存数据并与测试数据比较，比较结果均一致则测试通过；第二测试首先擦除目标存储芯片，然后对存储芯片每个地址空间写入测试数据并验证，验证通过后读取存储芯片的所有保存数据并与测试数据比较，比较结果均一致则测试通过。本发明能够自动完成对于存储芯片的全盘测试，并采用双重判断的机制以提高测试结果的可信度，还可以实时上报测试进度以及测试结果。

公开(公告)号：CN116131879B

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202310028285.9

申请日：2023-01-09

申请人： 湖南艾科诺维科技有限公司

发明人： 易博文 ,  甘伟 ,  王萌

IPC分类号： H04B1/713 ,  G06F18/23

摘要： 本发明公开了一种跳频频率集聚类分析方法，包括以下步骤：对跳频速度和驻留时间分别进行数据筛选后求平均值；以第一步长从起始频率点开始选取锚点，将与所有锚点距离的平均误差最小的频点指定为最佳起始频率点；统计以第一步长从最佳起始频率点开始选取的聚类基点的撞击点和撞击次数；统计真实撞击基点数量，计算每个真实撞击基点的估计值；比较真实撞击基点的数量与目标值的大小，以确定跳频信号识别是否成功，将每个真实撞击基点的估计值汇总得到跳频频率集。本发明复杂度低，能够针对测试指标得到准确估计结果。