用于训练和验证基于机器学习的发射/接收系统的系统和方法

    公开(公告)号:CN118869098A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410527828.6

    申请日:2024-04-29

    Abstract: 一种测试和测量设备包括:信号发生器,用于生成测试信号;信号分析器,用于从自适应测试中系统(SUT)接收响应信号;通信端口,用于允许所述响应信号的接收;以及一个或多个处理器,用于将信号发送到所述信号发生器以生成第一测试信号,从所述信号分析器接收响应信号,测量所述响应信号的性能,以及将所述性能报告给所述SUT和所述测试和测量设备上的用户工作区中的至少一个。一种测试测试中系统(SUT)的方法包括:利用信号发生器生成和发送测试信号;在信号分析器处从所述SUT接收响应信号;测量所述响应信号关于所述测试信号的性能;以及将所述性能报告给所述SUT和用户工作区中的至少一个。

    用于同时提供宽频率范围、高带宽和高分辨率的多个模数转换器系统

    公开(公告)号:CN117751524A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202280049617.5

    申请日:2022-07-12

    Inventor: A·克劳斯卡

    Abstract: 一种复合模数转换器(ADC),其具有:低分辨率ADC,其被配置成接收模拟数据并将模拟数据数字化,该低分辨率ADC具有低分辨率和高操作速度;一个或多个高分辨率ADC,其被配置成接收模拟数据并将模拟数据数字化,该一个或多个高分辨率ADC具有比低分辨率ADC更高的分辨率,以及比低分辨率ADC的高操作速度更低的操作速度;采样时钟发生器,其用于向低分辨率ADC以及向时钟分频器提供采样时钟信号;混频器,其用于接收模拟数据并连接到一个或多个高分辨率ADC;本地振荡器,其连接到混频器以允许调谐一个或多个高分辨率ADC以对第一ADC的频谱的一部分进行采样。测试和测量仪器包含复合ADC。一种操作复合模数转换器(ADC)的方法,包括:在以高速操作的低分辨率ADC处接收模拟信号;在一个或多个高分辨率ADC处接收模拟信号,所述高分辨率ADC以比低分辨率ADC更高的分辨率并且以比低分辨率ADC的操作速度更低的速度操作;调谐高分辨率ADC以将一个或多个高分辨率ADC的信号路径与低分辨率ADC的信号路径进行相位对准和时间对准;从低分辨率ADC产生频谱;以及从一个或多个高分辨率ADC产生频谱的一部分。

    灵活的任意波形发生器和内部信号监控器

    公开(公告)号:CN117434319A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202310904202.8

    申请日:2023-07-21

    Abstract: 提供了灵活的任意波形发生器和内部信号监控器。一种测试和测量仪器具有任意波形发生器,该任意波形发生器具有至少两个波形发生器。每个波形发生器包括:信号发生器,用于根据数字组成输出信号的选定信号类型生成同相(I)和正交(Q)数字信号;脉冲包络定序器,用于调制I和Q数字信号的幅度;以及一个或多个乘法器,用于将I和Q数字信号与载波信号组合以产生数字组成输出信号。任意波形发生器包括:流管理器,用于为波形发生器产生调制描述符字;求和块,用于选择性地组合数字组成输出信号以产生数字多组成输出信号;数模转换器,用于将数字多组成输出信号转换成模拟输出信号;以及内部信号分析器,用于接收一个或多个数字输出信号的分析器输入。

    用于测试和测量仪器的变频器附件

    公开(公告)号:CN114641696A

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202080078899.2

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 一种附件设备具有测试端口、连接到具有操作带宽的仪器的仪器端口;以及一个或多个可配置信号路径,其可连接在测试端口和仪器端口之间,以将来自测试端口的具有第一频率范围的信号转换成具有不同于第一频率范围的第二频率范围的信号。一种测试和测量系统包括具有操作带宽的测试和测量仪器,以及附件设备。附件设备具有将附件设备连接到测试和测量仪器的第一仪器端口、将附件设备连接到被测设备的测试端口、以及一个或多个可配置信号路径,其可连接在测试端口和仪器端口之间,以将来自测试端口的具有第一频率范围的信号转换成具有不同于第一频率范围的第二频率范围的信号。

    毫米波材料测试系统
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112068115A

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN202010522507.9

    申请日:2020-06-10

    Inventor: A·克劳斯卡

    Abstract: 本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法,并且特别是涉及包括用于测试材料的雷达透射和反射率的测试和测量仪器的毫米波材料测试系统。测试和测量设备对被测材料的插入损耗进行测量。测试和测量设备包括与被测材料的第一表面接触的参考设备,所述参考设备包括反射组件和吸收组件。测试设备与被测试材料的与第一表面相反的第二表面接触。所述测试设备包括:第一发射器,用于透过被测材料向参考设备的反射组件输出预定频率的第一信号;第一接收器,用于接收来自反射组件的第一反射信号;第二发射器,用于透过被测材料向参考设备的吸收组件输出预定频率的第二信号;以及第二接收器,用于接收来自被测材料的第二反射信号。

Patent Agency Ranking