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发明公开
低频S参数测量的方法审中-公开

公开(公告)号：CN112051455A

公开(公告)日：2020-12-08

申请号：CN202010511418.4

申请日：2020-06-08

申请人： 特克特朗尼克公司

发明人： J·J·皮克 , 谈侃

IPC分类号： G01R27/28

摘要： 本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及表征用于测试和测量系统的测试和测量探头的性能。方法确定被测设备针对第一频率范围的散射参数S参数。该方法包括接收被测设备针对第二频率范围的S参数，所述第二频率范围大于所述第一频率范围。一般而言，被测设备针对第二频率范围的S参数可以使用已知的方法来确定。该方法进一步包括测量被测设备的实际响应，确定被测设备的期望信号，以及基于针对第二频率范围的S参数、被测设备的实际响应和被测设备的期望信号，确定被测设备针对第一频率范围的S参数。