操作用于缺陷检查的计算装置的方法及检查缺陷的系统

    公开(公告)号:CN115082374A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202110858120.5

    申请日:2021-07-28

    Inventor: 金泰贤 金政奎

    Abstract: 本发明公开了一种操作用于缺陷检查的计算装置的方法及检查缺陷的系统。基于产品的图像使用基于深度学习的分类模型来确定良好或有缺陷的产品时,本实施方式提供了一种缺陷检查装置和方法,用于通过使用可解释人工智能(XAI)的基于深度学习的分类模型来提供用于确定良好/有缺陷的产品的依据,生成类别集用于依据,以及使用类别集连续更新基于深度学习的分类模型的参数。

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