保护膜形成用复合片
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118027840A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410233893.8

    申请日:2017-04-25

    IPC分类号: C09J7/29 C09J133/00

    摘要: 本发明涉及一种保护膜形成用复合片,其具备支撑片、并在支撑片上具备能量射线固化性的保护膜形成用膜,在对保护膜形成用膜照射能量射线而制成保护膜时,保护膜与支撑片之间的粘着力为50~1500mN/25mm。

    保护膜形成用复合片及半导体芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN113969114B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202111233131.0

    申请日:2018-10-25

    IPC分类号: B32B27/00 C09J133/00

    摘要: 本发明为一种保护膜形成用复合片,其含有支撑片与设置在该支撑片上的能量射线固化性的保护膜形成用膜,所述保护膜形成用复合片中,该保护膜形成用膜含有能量射线固化性成分(a0)及非能量射线固化性聚合物(b),该支撑片的与该保护膜形成用膜接触的层含有树脂成分(X),该非能量射线固化性聚合物(b)与该树脂成分(X)的HSP距离R12为6.7以上,规定HSP空间,并在该HSP空间内制作该非能量射线固化性聚合物(b)的汉森溶解球时,该能量射线固化性成分(a0)的HSP包含在该非能量射线固化性聚合物(b)的汉森溶解球的区域内。

    保护膜形成用复合片及半导体芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN111107994B

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN201880060878.0

    申请日:2018-10-25

    摘要: 本发明为一种保护膜形成用复合片,其含有支撑片与设置在该支撑片上的能量射线固化性的保护膜形成用膜,所述保护膜形成用复合片中,该保护膜形成用膜含有能量射线固化性成分(a0)及非能量射线固化性聚合物(b),该支撑片的与该保护膜形成用膜接触的层含有树脂成分(X),该能量射线固化性成分(a0)与该非能量射线固化性聚合物(b)的HSP距离R23A为6.5以下,该能量射线固化性成分(a0)与该树脂成分(X)的HSP距离R13A为2.2以上。

    保护膜形成用复合片及半导体芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN111093987A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201880060022.3

    申请日:2018-10-25

    摘要: 本发明为一种保护膜形成用复合片,其含有支撑片与设置在该支撑片上的能量射线固化性的保护膜形成用膜,所述保护膜形成用复合片中,该保护膜形成用膜含有能量射线固化性成分(a0)及非能量射线固化性聚合物(b),该支撑片的与该保护膜形成用膜接触的层含有树脂成分(X),该非能量射线固化性聚合物(b)与该树脂成分(X)的HSP距离R12为6.7以上,规定HSP空间,并在该HSP空间内制作该非能量射线固化性聚合物(b)的汉森溶解球时,该能量射线固化性成分(a0)的HSP包含在该非能量射线固化性聚合物(b)的汉森溶解球的区域内。

    切割片
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106463375B

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201580030575.0

    申请日:2015-05-18

    摘要: 本发明为一种切割片,所述切割片(1)具备:基材(2)、叠层于基材(2)的第1面侧的粘合剂层(3)和叠层于粘合剂层(3)的与基材(2)相反面侧的剥离片(6),其中,基材(2)的第2面的算术平均粗糙度(Ra1)为0.2μm以上,在将切割片(1)在130℃下加热2小时后,基材(2)的第2面的算术平均粗糙度(Ra2)为0.25μm以下。

    带保护膜的半导体芯片的制造方法及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN109075046A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201780025391.4

    申请日:2017-04-25

    IPC分类号: H01L21/301

    摘要: 本发明涉及一种带保护膜的半导体芯片(19)的制造方法,其中,在半导体晶圆(18)贴附能量射线固化性的保护膜形成用膜(13)后,对保护膜形成用膜(13)照射能量射线而使其固化,接着,对半导体晶圆(18)进行切割。对保护膜形成用膜(13)照射能量射线而制成保护膜(13’)时,保护膜(13’)的拉伸弹性模量为500MPa以上。本发明也涉及一种半导体装置的制造方法,其中,拾取带保护膜的半导体芯片(19),并将半导体芯片(19)连接于衬底。