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发明公开
一种老化测试系统审中-实审

公开(公告)号：CN118731556A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202411002089.5

申请日：2024-07-25

申请人： 百信信息技术有限公司

发明人： 梁跃 , 姜凤和

IPC分类号： G01R31/00 , G01R1/04 , G01R1/02

摘要： 本申请涉及一种老化测试系统,涉及测试装置的领域，包括老化车，老化车包括一侧呈敞口状的箱体，所述老化车的底部安装有滚轮，所述箱体中固定有多个底板，多个底板沿箱体的高度方向排列，所述箱体中设有与底板一一对应且位于底板上方的托板，箱体中设有连接件，连接件使托板能够沿箱体的敞口方向滑动；所述托板上设有两个夹板，两个夹板的排列方向垂直于托板的滑动方向，夹板与箱体滑动连接，且夹板的滑动方向与两个夹板的排列方向一致；所述箱体中设有使驱动两个夹板进行相对移动的驱动组件，所述底板上还设有对托板与底板进行限位的限位组件。本申请具有减少电子产品的老化测试结果受到不利影响的效果。