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    用于探测目标物质的感测装置
    1.
    发明授权
    用于探测目标物质的感测装置 失效 复审申请

    公开(公告)号：CN102317758B

    公开(公告)日：2016-06-01

    申请号：CN201080008124.4

    申请日：2010-02-08

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： D·M·布鲁斯 ,  T·H·埃弗斯 ,  J·J·H·B·施莱彭

    IPC: G01N21/552 ,  G01N33/543

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测研究区域(113)中的目标物质(2)的感测装置(100)。所述感测装置(100)包括：感测表面(112)，其上具有研究区域(113)和参考区域(120)。所述感测装置(100)还包括位于所述参考区域(120)的参考元件(121)。所述参考元件(121)被配置为将所述参考区域(120)从所述目标物质(2)遮蔽，使得在全内反射条件下在所述参考区域(120)反射的光保持不受到所述目标物质(2)的存在或不存在的影响。这容许独立于目标物质(2)的存在或不存在，对在参考区域(120)反射的光的性质，典型地为强度，进行测量。反射的光的此测得的性质能够用于执行对在研究区域(113)反射的光的改善的校正。

    光学扫描设备
    6.
    发明公开
    光学扫描设备 无效

    公开(公告)号：CN1774750A

    公开(公告)日：2006-05-17

    申请号：CN200480009905.X

    申请日：2004-04-05

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： J·J·H·B·施莱彭

    IPC: G11B7/135

    CPC classification number: G11B7/1392 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/0916 ,  G11B7/1378 ,  G11B2007/13727

    Abstract: 本发明涉及一种光学扫描设备以及用于该设备中的光学波前调节器，以用于扫描包括信息层的光学记录载体，例如光盘。该设备包括辐射光源(9)，用于发射入射辐射光束；检测系统，包括用于接收从信息层反射的辐射并且检测其中的信息信号的信息信号检测器(25)；光学系统(14、12)，用于将入射辐射光束聚焦为记录载体上的光点并且将反射辐射光束引导到信息信号检测器上；以及光学波前调节器(10)，设置在入射辐射光束和反射辐射光束的光路中。该入射辐射光束在其入射到光学波前调节器上之前的给定位置(L)处具有第一波前形状，该反射辐射光束在通过光学波前调节器之后的所述给定位置具有第二波前形状。在本发明的实施例中，该光学波前调节器用于对入射和反射辐射光束进行波前调节，使得第二波前形状基本上不同于第一波前形状。第二波前形状具有这种形式，使得反射辐射光束的光程小于入射辐射光束的光程，从而能够进一步微型化该光学扫描设备。

    用于感测流体中的物质的感测系统
    7.
    发明授权
    用于感测流体中的物质的感测系统 失效

    公开(公告)号：CN102498385B

    公开(公告)日：2015-05-20

    申请号：CN201080040876.9

    申请日：2010-09-13

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： J·A·H·M·卡尔曼 ,  T·P·H·G·扬森 ,  J·J·H·B·施莱彭

    IPC: G01N21/86

    CPC classification number: G01N21/8483

    Abstract: 本发明涉及用于感测流体中的物质的感测系统。感测系统包括参考部位(131)和感测部位(132)，物质在感测部位(132)被感测。信号产生单元通过感测感测部位(132)来产生感测信号并且通过感测参考部位(131)来产生参考信号。参考信号用于归一化感测信号，其中感测部位(132)和参考部位(131)布置成使得归一化感测信号的漂移变化在归一化感测信号的噪声变化内。这改善了归一化感测信号的精度。

    检测系统与方法
    8.
    发明授权
    检测系统与方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN102165305B

    公开(公告)日：2014-08-20

    申请号：CN200980137641.9

    申请日：2009-09-21

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·温贝格尔-弗里德尔 ,  J·H·尼乌文赫伊斯 ,  J·J·H·B·施莱彭

    IPC: G01N21/64 ,  G01N21/77 ,  G01N33/543

    CPC classification number: G01N21/6428 ,  G01N21/648

    Abstract: 一种检测系统将激发辐射源(18)、检测器(22)以及磁体装置(24)结合，所述激发辐射源提供激发辐射(10)到具有检测表面的基底(16)内的试样(14)的分析区域，所述检测器用于检测从包括试样检测表面的分析区域采集的并由激发所产生的辐射，所述磁体装置在试样分析区域下方并且相对于激发辐射源和光耦合装置是静止的，用于将试样中的磁性珠粒(15)吸引到基底的表面。所述检测辐射由基底的检测表面采集，以赋予增强的表面特异性。本发明将表面检测的优点与用于将靶标带到表面的简单低成本磁性系统结合。

    具有光折射结构的样品载体
    9.
    发明公开
    具有光折射结构的样品载体 无效

    公开(公告)号：CN102939526A

    公开(公告)日：2013-02-20

    申请号：CN201180026808.1

    申请日：2011-05-30

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： J·H·M·雷正 ,  J·J·H·B·施莱彭

    IPC: G01N21/03 ,  B01L3/00

    CPC classification number: G01N21/03 ,  B01L3/502715 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0851 ,  G01N21/0303 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/0378

    Abstract: 本发明涉及用于样品室（2）中样品的光学操控的载体（211）和装置，其中，所述载体（211）包括具有多个孔（52），特别是凹槽（52）的接触表面（12）。在优选实施例中，孔（52）具有两个反向倾斜的相对面（53、54），该两个反向倾斜的相对面（53、54）包括小于约(3/4/3/4)·140°的角（2α），其中，3/4和n2分别是载体和样品的折射率。此外，可以布置光源，以使得其产生输入光束（L1），该输入光束在作为输出光束（L2）离开载体（211）之前横穿至少两个孔（52）。由于面（53、54）的陡度和/或输入光束（L1）通过孔（52）的多次通行，可以与孔中的样品以有效的方式相互作用，并最小化光损失。

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