一种桥芯片线路板中贵金属含量测试方法及试样制备方法

    公开(公告)号:CN113654942A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202111037863.2

    申请日:2021-09-06

    IPC分类号: G01N5/04

    摘要: 一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法,包括以下步骤:按照标准取线路板样品,并记录线路板样品的重量为M0;将所述线路板样品放入200℃的电磁加热板上进行加热,用工具进行各组件脱离,得到光板、卡槽、芯片及其他元器件,并对应记录重量为M组件;将各组件放置到600℃马沸炉中灼烧30min‑40min;冷却后对各组件进行称量并记录为M剩余;将灼烧后的各组件放入洁净干燥的研磨仪中分批进行研磨,研磨后将各组件粉末分别过预设目数的筛网,分别得到各组件的至少两组试样。本发明通过将废旧桥芯片线路板样品按组件进行拆解,并获取各组件的重量占比,火试金测试出结果后再按比例进行结果换算,能很好的提高测试效率和准确性,降低成本。

    铬粉金钯含量测试方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114441462A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202111665918.4

    申请日:2021-12-30

    摘要: 本申请是关于一种铬粉金钯含量测试方法。该方法包括:称取铬粉;制备包含无水碳酸钠、氧化铅、二氧化硅、硼砂、纯银粉以及面粉的熔炼配料;制备包含质量比例为2:1的无水碳酸钠和硼砂的混合覆盖配料;将铬粉以及熔炼配料加入黏土坩埚中,将混合覆盖配料覆盖在熔炼配料上,熔炼达到第一时长;在得到的初始熔炼物中加入氧化铅,熔炼达到第二时长;将得到的目标熔炼物冷却,将得到的目标铅粒进行物理分离,分别将得到的若干分离铅粒放入预热的灰皿中,灰吹达到第三时长;将得到的目标贵金属合金粒进行消解处理和湿法处理后确定金钯含量。本申请的方案,能够降低测试成本,简化测试步骤,提升熔炼效果,提升铬粉金钯含量测试的准确度,提升测试效率。