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公开(公告)号:CN101383191B
公开(公告)日:2012-05-02
申请号:CN200810121736.9
申请日:2008-10-27
申请人: 矽谷晶量半导体(杭州)有限公司
摘要: 本发明公开了一种Flash存储芯片总线信号分析工具,其特征在于,它主要由Flash总线信号采样单元、Flash总线信号分析单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元组成。所述Flash总线信号采样单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号分析单元相连。所述Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号显示单元相连。本发明相比使用传统测试工具,在分析Flash存储芯片总线信号方面,有了很大的进步和显著的优点。搭建分析环境十分简便,操作简单、方便,存储深度大。
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公开(公告)号:CN101383191A
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN200810121736.9
申请日:2008-10-27
申请人: 矽谷晶量半导体(杭州)有限公司
摘要: 本发明公开了一种Flash存储芯片总线信号分析工具,其特征在于,它主要由Flash总线信号采样单元、Flash总线信号分析单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元组成。所述Flash总线信号采样单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号分析单元相连。所述Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号显示单元相连。本发明相比使用传统测试工具,在分析Flash存储芯片总线信号方面,有了很大的进步和显著的优点。搭建分析环境十分简便,操作简单、方便,存储深度大。
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