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公开(公告)号:CN105164513A
公开(公告)日:2015-12-16
申请号:CN201380076163.1
申请日:2013-06-04
Applicant: 福斯分析股份公司
Inventor: 佩尔·瓦本·汉森
CPC classification number: G01N21/35 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01J3/45 , G01N21/274 , G01N2021/3595 , G01N2201/061 , G01N2201/12746
Abstract: 本发明涉及一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法,该方法包括:将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射,确定在该多个波数下该样品(610)中的电磁吸收,确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数,其中该第二波数不同于该第一波数,确定该第一波数与该第二波数之间的一个差,以及基于该差确定该路径长度偏差。
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公开(公告)号:CN105164513B
公开(公告)日:2018-02-02
申请号:CN201380076163.1
申请日:2013-06-04
Applicant: 福斯分析股份公司
Inventor: 佩尔·瓦本·汉森
CPC classification number: G01N21/35 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01J3/45 , G01N21/274 , G01N2021/3595 , G01N2201/061 , G01N2201/12746
Abstract: 本发明涉及一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法,该方法包括:将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射,确定在该多个波数下该样品(610)中的电磁吸收,确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数,其中该第二波数不同于该第一波数,确定该第一波数与该第二波数之间的一个差,以及基于该差确定该路径长度偏差。
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