使用反射表面的对象检测
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117710932A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311096326.4

    申请日:2023-08-29

    Abstract: 本公开提供了“使用反射表面的对象检测”。通过检测包括在包括在多个图像中的一个或多个图像中的反射表面来跟踪包括在反射表面中的对象,所述检测是通过确定所述反射表面在像素坐标中的位置并跟踪所述反射表面在所述多个图像中的位置来进行。所述对象的真实世界位置可以基于所述反射表面的属性来确定,所述属性包括几何类别、使到达反射表面与环境相关的外在性质、描述所述反射表面而不涉及所述环境的固有性质以及所述传感器的校准性质。

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