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公开(公告)号:CN111133284A
公开(公告)日:2020-05-08
申请号:CN201880062362.X
申请日:2018-08-24
申请人: 索尼半导体解决方案公司
摘要: 本发明使过度偏置成为用于检测光的装置中的适当值。该固态成像元件配备有光电二极管、电阻器和控制电路。在该固态成像元件中,光电二极管对入射光进行光电转换,并输出光电流。此外,在固态成像元件中,电阻器连接到光电二极管的阴极。另外,在固态成像元件中,当光电流流入电阻器时,阴极的电位越高,控制电路提供给光电二极管阳极的电位越低。
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公开(公告)号:CN116539153A
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310573908.0
申请日:2018-08-24
申请人: 索尼半导体解决方案公司
IPC分类号: G01J1/42 , H01L27/146 , H01L31/10 , H01L31/107 , G01S7/486 , H04N25/63 , H04N25/76
摘要: 本申请涉及固态成像元件和电子装置。具体地,本发明使过度偏置成为用于检测光的装置中的适当值。该固态成像元件配备有光电二极管、电阻器和控制电路。在该固态成像元件中,光电二极管对入射光进行光电转换,并输出光电流。此外,在固态成像元件中,电阻器连接到光电二极管的阴极。另外,在固态成像元件中,当光电流流入电阻器时,阴极的电位越高,控制电路提供给光电二极管阳极的电位越低。
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公开(公告)号:CN111133284B
公开(公告)日:2023-06-20
申请号:CN201880062362.X
申请日:2018-08-24
申请人: 索尼半导体解决方案公司
摘要: 本发明使过度偏置成为用于检测光的装置中的适当值。该固态成像元件配备有光电二极管、电阻器和控制电路。在该固态成像元件中,光电二极管对入射光进行光电转换,并输出光电流。此外,在固态成像元件中,电阻器连接到光电二极管的阴极。另外,在固态成像元件中,当光电流流入电阻器时,阴极的电位越高,控制电路提供给光电二极管阳极的电位越低。
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公开(公告)号:CN114424524A
公开(公告)日:2022-04-29
申请号:CN202080065329.X
申请日:2020-07-13
申请人: 索尼半导体解决方案公司
IPC分类号: H04N5/369 , H04N5/374 , H04N5/3745 , G01S17/894 , G01S7/4865
摘要: 在这种测量距离的固态成像元件中,促进了像素的小型化。该固态成像元件设置有像素阵列单元和光子数检测单元。在设置有像素阵列单元和光子数检测单元的固态成像元件中,向像素阵列单元提供了根据光子的入射生成规定的模拟信号的多个像素、以及多个像素共同连接到的信号线。此外,在固态成像元件中,光子数检测单元基于经由信号线传输的模拟信号检测已经入射的光子数。
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公开(公告)号:CN114270211A
公开(公告)日:2022-04-01
申请号:CN202080059176.8
申请日:2020-08-27
申请人: 索尼半导体解决方案公司
IPC分类号: G01S7/484 , G01S7/4865 , G01S7/497 , G01S7/486 , G01S17/10 , G01J1/42 , G01S17/89 , G01C3/06 , G01J1/44
摘要: 提出了一种实现提高测距精度的测距系统。一种测距系统(70),包括:驱动单元(24),输出使发光元件发光以用光照射目标的驱动信号;传感器部(302),检测来自目标的反射光;测量单元(23),测量延迟时间,该延迟时间是包括在从输出用于使发光元件发光的触发信号的时间到发光元件实际发光的时间之间的时段中的时间段;以及测距观察部(52),其是处理部,用于基于触发信号的输出时间、由传感器部接收反射光的时间和延迟时段执行计算到目标的距离。
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公开(公告)号:CN115336012A
公开(公告)日:2022-11-11
申请号:CN202080098819.X
申请日:2020-12-21
申请人: 索尼半导体解决方案公司
IPC分类号: H01L31/10 , H01L31/107 , H04N5/369
摘要: 这种用于生成距离图像的感测装置减小了距离图像的测距精度的变化。该感测装置设置有:预定数量的像素电路;以及电压控制单元。将光电转换元件和检测电路提供给每个像素电路。预定的反向偏置电压被施加在光电转换元件的阳极和阴极之间。检测电路基于阳极或阴极中任一个的电位来检测光子是否存在。电压控制单元将反向偏置电压调整为与每个像素电路的光电转换元件的击穿电压对应的值。
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