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公开(公告)号：CN1291406C
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN98103208.7
申请日：1998-06-19
IPC: G11B11/105
CPC classification number: G11B7/00745 , G11B7/007 , G11B7/00718 , G11B7/0938 , G11B7/0956 , G11B11/10515 , G11B11/10582 , G11B27/19 , G11B27/3027 , G11B2220/20
Abstract: 一种光盘和用于该光盘适于高密度记录数据的光盘驱动器。光盘D使用凸台和凹槽作为记录轨迹。每一个轨迹包括一个地址段和45个数据段。地址段在其一侧被摆动。每一个数据段是一个DC凹槽。地址段记录一个包括同步信号、帧地址、轨迹地址和CRC、倾斜图案和时钟标记的地址信息。时钟标记被采用，将激光束反射为标记之前的一个光量和标记之后的一个光量。倾斜图案具有与其它区域不同的轨迹间距。地址段磁-光地记录数据。
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公开(公告)号：CN1203415A
公开(公告)日：1998-12-30
申请号：CN98103208.7
申请日：1998-06-19
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00745 , G11B7/007 , G11B7/00718 , G11B7/0938 , G11B7/0956 , G11B11/10515 , G11B11/10582 , G11B27/19 , G11B27/3027 , G11B2220/20
Abstract: 一种光盘和用于该光盘适于高密度记录数据的光盘驱动器。光盘D使用凸台和凹槽作为记录轨迹。每一个轨迹包括一个地址段和45个数据段。地址段在其一侧被摆动。每一个数据段是一个DC凹槽。地址段记录一个包括同步信号、帧地址、轨迹地址和CRC、倾斜图案和时钟标记的地址信息。时钟标记被采用,将激光束反射为标记之前的一个光量和标记之后的一个光量。倾斜图案具有与其它区域不同的轨迹间距。地址段磁－光地记录数据。
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公开(公告)号：CN1215207A
公开(公告)日：1999-04-28
申请号：CN98121364.2
申请日：1998-10-16
Applicant: 株式会社日立制作所 , 索尼公司 , 夏普公司 , 奥林巴斯光学工业株式会社 , 三洋电机株式会社 , 富士通株式会社 , 日立马库塞鲁株式会社
IPC: G11B13/04
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/094 , G11B7/0941 , G11B7/0945 , G11B7/0956 , G11B11/10515 , G11B11/10576 , G11B11/10595
Abstract: 一种使用至少具备第1磁性膜和第2磁性膜的磁光信息记录媒体,通过在第2磁性膜上照射再生激光磁光信息的磁光信息记录再生装置。具有感光反射的再生激光的2分割光检测电路,把对应于各个光检测器件感光量的电平输出信号进行相减的减法电路。还有再生前使激光的光点跳动1个磁道部分的电路;检测磁道跳动信号的正侧振幅和负侧振幅之比并输出修正信号的正负均衡修正电路;把差分信号和修正信号相加,生成跟踪误差信号的加法电路。
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公开(公告)号：CN101826338B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201010157557.8
申请日：2007-03-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/1267
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00456
Abstract: 本发明的记录参数设定装置具备：试验记录参数设定部(23)，根据记录信息对存储有记录参数组的存储部进行查询并设定用于进行试验记录的试验记录参数，其中，该记录参数组用于至少控制后边缘的热量，该记录参数组至少根据记录标记长度进行分类，并且，上述记录参数组中，记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的记录参数被分为同一类；以及重放信号品质判断部(26)，当重放信号不能满足预定的重放信号品质时，对上述记录参数组中的记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的分类进一步实施细分并再次进行试验记录、当上述重放信号满足预定的重放信号品质时，将试验记录参数设定为上述记录参数，其中，上述重放信号是重放基于试验记录参数的试验记录所得到的信号。由此，能抑制所使用的记录参数的数量，并能更确实地形成具有良好重放信号品质的记录标记。
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公开(公告)号：CN101436414B
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN200810169928.7
申请日：2007-03-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/006
Abstract: 本发明提供一种记录参数设定装置、方法和程序、记录有该程序的记录介质、信息记录介质、记录重放装置。本发明的记录参数设定装置具备：试验记录参数设定部(23)，根据记录信息对存储有记录参数组的存储部进行查询并设定用于进行试验记录的试验记录参数，其中，该记录参数组用于至少控制后边缘的热量，该记录参数组至少根据记录标记长度进行分类，并且，上述记录参数组中，记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的记录参数被分为同一类；以及重放信号品质判断部(26)，当重放信号不能满足预定的重放信号品质时，对上述记录参数组中的记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的分类进一步实施细分并再次进行试验记录、当上述重放信号满足预定的重放信号品质时，将试验记录参数设定为上述记录参数，其中，上述重放信号是重放基于试验记录参数的试验记录所得到的信号。由此，能抑制所使用的记录参数的数量，并能更确实地形成具有良好重放信号品质的记录标记。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101840707A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN201010202592.7
申请日：2008-09-25
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/00 , G11B7/0037 , G11B7/005 , G11B7/08511 , G11B7/12 , G11B7/126 , G11B7/1263 , G11B7/24 , G11B7/24038 , G11B19/125 , G11B19/128 , G11B2007/0013
Abstract: 一种用于对光信息记录介质进行重放的光信息记录介质重放装置(10)，该光信息记录介质由层叠多个包含有长度短于光学系分辨极限的记录标记的信息记录层而成，在该光信息记录介质重放装置(10)中，进行设定使得用于对最接近重放激光入射面的信息记录层进行重放的重放激光功率，小于对最远离重放激光入射面的信息记录层进行重放的重放激光功率并且在满足该光信息记录介质重放装置(10)所需重放信号特性下的最小重放激光功率以上。由此，对接近重放激光入射面的信息记录层进行重放时，能够防止重放激光功率高的重放激光误射到该信息记录层，从而能够获得良好的重放品质。即，能够通过确定最适当的重放激光功率以实现进行稳定超分辨重放的光信息记录介质重放装置(10)。
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公开(公告)号：CN101826335A
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN201010157528.1
申请日：2007-03-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00456
Abstract: 本发明的记录参数设定装置具备：试验记录参数设定部(23)，根据记录信息对存储有记录参数组的存储部进行查询并设定用于进行试验记录的试验记录参数，其中，该记录参数组用于至少控制后边缘的热量，该记录参数组至少根据记录标记长度进行分类，并且，上述记录参数组中，记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的记录参数被分为同一类；以及重放信号品质判断部(26)，当重放信号不能满足预定的重放信号品质时，对上述记录参数组中的记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的分类进一步实施细分并再次进行试验记录、当上述重放信号满足预定的重放信号品质时，将试验记录参数设定为上述记录参数，其中，上述重放信号是重放基于试验记录参数的试验记录所得到的信号。由此，能抑制所使用的记录参数的数量，并能更确实地形成具有良好重放信号品质的记录标记。
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公开(公告)号：CN101826334A
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN201010157516.9
申请日：2007-03-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00456
Abstract: 本发明的记录参数设定装置具备：试验记录参数设定部(23)，根据记录信息对存储有记录参数组的存储部进行查询并设定用于进行试验记录的试验记录参数，其中，该记录参数组用于至少控制后边缘的热量，该记录参数组至少根据记录标记长度进行分类，并且，上述记录参数组中，记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的记录参数被分为同一类；以及重放信号品质判断部(26)，当重放信号不能满足预定的重放信号品质时，对上述记录参数组中的记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的分类进一步实施细分并再次进行试验记录、当上述重放信号满足预定的重放信号品质时，将试验记录参数设定为上述记录参数，其中，上述重放信号是重放基于试验记录参数的试验记录所得到的信号。由此，能抑制所使用的记录参数的数量，并能更确实地形成具有良好重放信号品质的记录标记。
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公开(公告)号：CN101436414A
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200810169928.7
申请日：2007-03-27
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/006
Abstract: 本发明提供一种记录参数设定装置、方法和程序、记录有该程序的记录介质、信息记录介质、记录重放装置。本发明的记录参数设定装置具备：试验记录参数设定部(23)，根据记录信息对存储有记录参数组的存储部进行查询并设定用于进行试验记录的试验记录参数，其中，该记录参数组用于至少控制后边缘的热量，该记录参数组至少根据记录标记长度进行分类，并且，上述记录参数组中，记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的记录参数被分为同一类；以及重放信号品质判断部(26)，当重放信号不能满足预定的重放信号品质时，对上述记录参数组中的记录标记长度大于或等于预定记录标记长度的分类进一步实施细分并再次进行试验记录、当上述重放信号满足预定的重放信号品质时，将试验记录参数设定为上述记录参数，其中，上述重放信号是重放基于试验记录参数的试验记录所得到的信号。由此，能抑制所使用的记录参数的数量，并能更确实地形成具有良好重放信号品质的记录标记。
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公开(公告)号：CN107110672A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580061334.2
申请日：2015-11-05
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 信号处理装置(100)包含预测电路(20)，该预测电路(20)，将传感器(80)的输出信号Va(T)从与表示测定对象的某个属性的参数P1对应的收敛值Vc1变成与P2对应的收敛值Vc2的时间设为Tr，将Va(T)从Vc2变成Vc1的时间设为Td时，在Tr或Td经过前的过渡响应期间，根据在时刻T1得到的Va_T1，生成与应在T1后的T2得到的输出信号对应的Vb_T2；预测电路，将预测值成为与Vc2对应的值的时间设为TrE，将预测值成为与Vc1对应的值的时间设为TdE时，生成成为TrE |1‑TdE/TrE|的预测值。
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